Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.


    Новиков, Ю. А.
    Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А. // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)

Найти похожие

2.


   
    ХХ!- век нано [Текст] // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники

Найти похожие

3.


    Родионов, Б. Н.
    Инструменты для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнологии -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Аннотация: Электронные микроскопы

Найти похожие

4.


    Петров, А. Б.
    Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа:
Галлямов, Р.Р.


Найти похожие

5.


    Волков, А. Б.
    Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом [Текст] / Волков А.Б., Неволин В.К. // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства) -- Зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Доп.точки доступа:
Неволин, В.К.


Найти похожие

 
Статистика
за 06.05.2024
Число запросов 1978
Число посетителей 153
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».