Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Найдено в других БД:

Книги (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>U=621.385.833<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

Бобринецкий, И. И.
Методы параллельной интеграции углеродных нанотрубок при формировании функциональных устройств микроэлектроники и сенсорной техники [Текст] / И. И. Бобринецкий // Микроэлектроника. - 2009. - Т. 38, № 5. - С. 353-360. - Библиогр.: 24 назв.

УДК

621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
СЕНСОРЫ (НОВЫЕ КОНСТРУКЦИИ) -- ТОНКОПЛЕНОЧНОЕ ПОКРЫТИЕ -- НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ

Найти похожие

Жуков, В. А.
Метод ионооптической имплантации одиночных ионов фосфора 31Р в качестве кубитов твердотельного квантового компьютера [Текст] / В.А.Жуков // Микроэлектроника. - 2003. - Т.3. - 6.-С.430-439. - (Технологические процесс)

УДК

621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
Компьютеры(повышение производительности) -- Квантовый компьютер(создание элементов)

Найти похожие

Сравнительный анализ методов растровой электронной микроскопии полупроводников : электронно-индуцированного потенциала, одноконтактного наведенного тока, термоакустического детектирования [Текст] / Э. И. Рау и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.243-256.-Библиогр.:28 назв.

УДК

621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия полупроводников(методы) -- Полупроводники(методы электронной микроскопии) -- Электронно-индуцированного вотенциала метод -- Одноконтактного наведенного тока метод -- Термоакустического детектирования метод
Доп.точки доступа:
Рау, Э.И.
Гостев, А.В.
Чжу, Шичу
Пханг, Д.
Чан, Д.
Тхонг, Д.
Вонг, В.

Найти похожие

Влияние баллистических электронов проводимости на вольт-амперные характеристики крестообразных микроструктур из тонких пленок висмута [Текст] / А. И. Ильин и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 1.-С.22-26.-Библиогр.:9 назв.

УДК

621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(исследование проводимости) -- Проводимость тонких пленок(исследование) -- Баллистические электроны проводимости -- Вольт-амперные характеристики микроструктур -- Крестообразные микроструктуры(характеристики)
Доп.точки доступа:
Ильин, А.И.
Апаршина, Л.И.
Дубонос, С.В.
Толкунов, В.Н.

Найти похожие

Волков, А. Б.
Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом [Текст] / Волков А.Б., Неволин В.К. // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)

УДК

621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства) -- Зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Доп.точки доступа:
Неволин, В.К.

Найти похожие

Неволин, В. К.
Двухэлектродные элементы наноэлектроники на основе квантовых проводов [Текст] / Неволин В.К. // Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - 4.-С.293-300.-Библиогр.:16 назв.

УДК

621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
Наноэлектроника(двухэлектродные элементы) -- Наноэлектроника(элементы на основе квантовых проводов)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 19.05.2024
Число запросов	2264
Число посетителей	124
Число заказов	0