Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53
Автор(ы) : Новиков Ю.А.
Заглавие : Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии
Место публикации : Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - С. 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
УДК : 53
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанокристаллические ферромагнетики--сканирующей туннельной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : ХХ!- век нано
Место публикации : Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующей электронной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--нанотрубки--производство наноэлектроники
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53:69
Автор(ы) : Родионов Б.Н.
Заглавие : Инструменты для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
УДК : 53:69
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Аннотация: Электронные микроскопы
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 539.1.38
Автор(ы) : Петров А.Б., Галлямов Р.Р.
Заглавие : Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 3.-С.190-197.
УДК : 539.1.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--атомно-силовая микроскопия--тонкие пленки(контроль качества)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Волков А.Б., Неволин В.К.
Заглавие : Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства)--зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 19.05.2024
Число запросов	1866
Число посетителей	120
Число заказов	0