Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Производство наноэлектроники<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


   
    ХХ!- век нано [Текст] // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники

Найти похожие

2.


    Усанов, Д. А.
    Использование СВЧ-фотонных структур для измерения параметров нанометровых пленок [Текст] / Д.А.Усанов, А.В.Скрипаль // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N9. - 80-88.-Библиогр.:20 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(контроль качества) -- Производство наноэлектроники -- Измерения толщины покрытия(миниатюрных структур)

Найти похожие

3.


    Креницкий, А. П.
    Проблемы измерения диэлектрических характеристик нано- и микроразмерных сред в терагерцевом диапазоне частот 100-3000ГГц [Текст] / А.П.Креницкий // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N9. - 30-35.-Библиогр.:12 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Производство наноэлектроники -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике) -- Измерения(параметров транзисторов) -- Нанотехнологии
Аннотация: Точность и быстродействие измерений в микро- и нанометровом масштабе

Найти похожие

 
Статистика
за 19.05.2024
Число запросов 1558
Число посетителей 115
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».