Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Тонкие пленки(контроль качества)<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Усанов, Д. А.
Использование СВЧ-фотонных структур для измерения параметров нанометровых пленок [Текст] / Д.А.Усанов, А.В.Скрипаль // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N9. - 80-88.-Библиогр.:20 назв.

УДК

621.38

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(контроль качества) -- Производство наноэлектроники -- Измерения толщины покрытия(миниатюрных структур)

Найти похожие

Тонкие кальций-фосфатные покрытия, полученные методом высокочастотного магнитронного распыления и перспективы их применения в медицинской технике [Текст] // Медицинская техника. - 2008. - N 3. - 18-22.-Библиогр.:11 назв.

УДК

615.47

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(контроль качества) -- Нанотехнологии

Найти похожие

Петров, А. Б.
Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.

УДК

539.1.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа:
Галлямов, Р.Р.

Найти похожие

Котенев, В. А.
Цифровая 3D-микрорефлектометрия в контроле топографии и качества тонких пленок [Текст] / В.А.Котенев // Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - 6.-С.466-478. - (Контроль качества)

УДК

621.382

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(контроль качества) -- Видеомикрозонд оптический компьютерный(использование) -- Цифровая 3D-микрорефлектометрия -- Контроль микротопографии тонких пленок

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 19.05.2024
Число запросов	1885
Число посетителей	120
Число заказов	0