Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Сканирующей туннельной микроскопии метод<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.


    Корнилов, В. М.
    Исследование слоистых структур Si-SiO2 и Si-SiO2-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зоновой нанотехнологии [Текст] / В. М. Корнилов // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 54-64. - Библиогр.: с. 64 (17 назв.)
УДК
620.3

Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД -- Туннельно-зондовой нанотехнологии -- СЛОИСТЫЕ СТРУКТУРЫ (ФОРМИРОВАНИЕ) -- НАНОСТРУКТУРНЫЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ (СВЕРХПЛАСТИЧНОСТЬ)

Найти похожие
2.


    Новиков, Ю. А.
    Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А. // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
УДК
53

Кл.слова (ненормированные):
Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)

Найти похожие
3.


   
    Гетероструктуры с квантовыми точками в системе JnAs/Si [Текст] / В.Н.Петров,Г.Э.Цирлин,А.О.Голубок и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.119-126.-Библиогр.:17 назв.
УДК
621.315.592

Кл.слова (ненормированные):
Гетероструктуры с квантовыми точками(для новых приборов) -- Технологии новые(опто-и микроэлектроники) -- Дифракции быстрых электронов на отражение метод -- Сканирующей электронной микроскопии метод -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Трансмиссионной электронной микроскопии метод -- Фотолюминесценции метод -- Система JnAs/Si -- Кремниевые технологии
Доп.точки доступа:
Петров, В.Н.
Цырлин, Г.Э.
Голубок, А.О.
Комяк, Н.И.
Устинов, В.М.
Леденцов, Н.Н.
Алферов, Ж.И.
Бимберг, Д.


Найти похожие
4.


    Суворов, А. Л.
    Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов [Текст] / А.Л.Суворов // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2003. - N8. - 28-34.-Библиогр.:54 назв.
УДК
621.039:620.186

Кл.слова (ненормированные):
Радиационные дефекты на поверхности -- Автономная микроскопия -- Зондовая микроскопия -- СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 19.05.2024
Число запросов 1240
Число посетителей 109
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».