Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Сканирующей электронной микроскопии метод<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    ХХ!- век нано [Текст] // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники

Найти похожие
2.


   
    Гетероструктуры с квантовыми точками в системе JnAs/Si [Текст] / В.Н.Петров,Г.Э.Цирлин,А.О.Голубок и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.119-126.-Библиогр.:17 назв.
УДК
621.315.592

Кл.слова (ненормированные):
Гетероструктуры с квантовыми точками(для новых приборов) -- Технологии новые(опто-и микроэлектроники) -- Дифракции быстрых электронов на отражение метод -- Сканирующей электронной микроскопии метод -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Трансмиссионной электронной микроскопии метод -- Фотолюминесценции метод -- Система JnAs/Si -- Кремниевые технологии
Доп.точки доступа:
Петров, В.Н.
Цырлин, Г.Э.
Голубок, А.О.
Комяк, Н.И.
Устинов, В.М.
Леденцов, Н.Н.
Алферов, Ж.И.
Бимберг, Д.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 19.05.2024
Число запросов 1867
Число посетителей 120
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».