Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=539.1.38<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Петров, А. Б.
    Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
УДК
539.1.38

Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа:
Галлямов, Р.Р.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 19.05.2024
Число запросов 1609
Число посетителей 117
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».