Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10 |
|
>1. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Родионов, Б. Н. Инструменты для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов> // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) Аннотация: Электронные микроскопы
Найти похожие
|
>2. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
ХХ!- век нано [Текст] > // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
Кл.слова (ненормированные): Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники
Найти похожие
|
>3. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Петров, А. Б. Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов> // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р.
Найти похожие
|
>4. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Медовый, В. С. Состав оборудования и системная платформа комплексов автоматизированной микроскопии [Текст] / В. С. Медовый [и др.]> // Медицинская техника. - 2007. - N 2. - 29-36.-Библиогр.:30 назв. - Качество изображения в оптико-электронном тракте
Кл.слова (ненормированные): Биомедицинские изображения -- среда IDL -- система сбора, обработки -- Биомедицинская информация -- Микроскопы туннельные сканирующие -- свойства микроконтактов Аннотация: Комплекс автоматизированной микроскопии.
Доп.точки доступа: Парпара, А.А.
Найти похожие
|
>5. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Волков, А. Б. Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом [Текст] / Волков А.Б., Неволин В.К.> // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства) -- Зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Доп.точки доступа: Неволин, В.К.
Найти похожие
|
>6. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Новиков, Ю. А. Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А.> // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
Кл.слова (ненормированные): Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Найти похожие
|
>7. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Байдин, Г. С. (преподаватель). Автоматизация подсчета количества частиц на наномасштабных изображениях электронного микроскопа [Текст] / Г. С. Байдин, А. С. Титов> // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2020. - № 5. - С. 59-71 : 7 рис. - Библиогр.: с. 68-69 (19 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Медицинская радиология и рентгенология
Прикладные отрасли медицины в целом
Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные): автоматизированный подсчет количества частиц -- кластеризация -- наноизмерения -- наномасштабные изображения -- сегментация -- электронные микроскопы Аннотация: Разработана методика автоматизированного подсчета количества частиц в веществе на изображениях электронного микроскопа.
Доп.точки доступа: Титов, А. С. (студент)
Найти похожие
|
>8. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Родионов, Б. Н. Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов> // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХI века. - 2008. - N 9. - С. 78 - 81
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии (сканирующие оптические микроскопы ближнего поля, применение) -- Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий -- Оптические сканирующие микроскопы ближнего поля для нанотехнологий -- Микроскопы сканирующие оптические ближнего поля для нанотехнологий
Найти похожие
|
>9. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Родионов, Б. Н. Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий [Текст] / Б. Н. Родионов> // Строительные материалы,оборудование,технологии ХХI в. - 2008. - N 8. - С. 46 - 47
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии (атомные силовые микроскопы,использование) -- Атомные силовые микроскопы для нанотехнологий -- Микроскопы атомные силовые для нанотехнологий -- Силовые атомные микроскопы для нанотехнологий -- Инструменты для нанотехнологий -- Нанотехнологии (инструменты,использование)
Найти похожие
|
>10. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
| 62 Н 34
Юшкова, Н. А. Анализ субъективной погрешности при измерении твердости по методу Бринелля [Текст] / Н. А. Юшкова ; науч. рук. В. М. Бастраков> // Научному прогрессу - творчество молодых : сб. материалов Всерос. науч. студен. конф. по естественно- науч. и техн. дисциплинам, 20-21 апреля 2007 г. / [редкол.: Иванов В. А. и др.]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2007. - С. 113. - (75 лет МарГТУ)
. - 639635 кнхр
Кл.слова (ненормированные): Порошковые материалы (качество) -- Микроскопы (виды) -- Инструментальный микроскоп -- Метод Бринелля (измерение твердости) -- ТРУДЫ МАРГТУ
Доп.точки доступа: Бастраков, В.М. \науч. рук.\
Найти похожие
|
|
|