Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПЫ<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 12 |
1. 
|
Байдин, Г. С. (преподаватель).
Автоматизация подсчета количества частиц на наномасштабных изображениях электронного микроскопа [Текст] / Г. С. Байдин, А. С. Титов // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2020. - № 5. - С. 59-71 : 7 рис. - Библиогр.: с. 68-69 (19 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Медицинская радиология и рентгенология
Прикладные отрасли медицины в целом
Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
автоматизированный подсчет количества частиц -- кластеризация -- наноизмерения -- наномасштабные изображения -- сегментация -- электронные микроскопы
Аннотация: Разработана методика автоматизированного подсчета количества частиц в веществе на изображениях электронного микроскопа.
Доп.точки доступа:
Титов, А. С. (студент)
Найти похожие
|
2.
|
Фишер, Х.
Комбинация взаимодополняющих технологий в микроскопии [Текст] / Х. Фишер // Наноиндустрия. - 2010. - N 4. - С. 50-52
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПЫ АТОМНЫЕ СИЛОВЫЕ ДЛЯ НАНОТЕХНОЛОГИЙ -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ОБЪЕКТЫ (КВАНТОВОЕ ПОВЕДЕНИЕ) -- ТРЕХМЕРНЫЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ (АНАЛИЗ, ОБРАБОТКА)
Аннотация: Описан метод комбинационное (рамановское) рассеяние, которое позволяет исследовать структурные и химические трехмерные изображения образцов с разрешением в субмикронном диапазоне.
Найти похожие
|
3.
|
Бесогонов, В. В.
Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений [Текст] / В. В. Бесогонов, И. Н. Скворцова // Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРА -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПЫ ТУННЕЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ (СВОЙСТВА МИКРОКОНТАКТОВ)
Доп.точки доступа:
Скворцова, И.Н.
Найти похожие
|
4.
|
Родионов, Б. Н.
Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХI века. - 2008. - N 9. - С. 78 - 81
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнологии (сканирующие оптические микроскопы ближнего поля, применение) -- Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий -- Оптические сканирующие микроскопы ближнего поля для нанотехнологий -- Микроскопы сканирующие оптические ближнего поля для нанотехнологий
Найти похожие
|
5.
|
Родионов, Б. Н.
Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий [Текст] / Б. Н. Родионов // Строительные материалы,оборудование,технологии ХХI в. - 2008. - N 8. - С. 46 - 47
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнологии (атомные силовые микроскопы,использование) -- Атомные силовые микроскопы для нанотехнологий -- Микроскопы атомные силовые для нанотехнологий -- Силовые атомные микроскопы для нанотехнологий -- Инструменты для нанотехнологий -- Нанотехнологии (инструменты,использование)
Найти похожие
|
6.
|
Новиков, Ю. А.
Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А. // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Найти похожие
|
7.
|
ХХ!- век нано [Текст] // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
Кл.слова (ненормированные):
Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники
Найти похожие
|
8.
|
Родионов, Б. Н.
Инструменты для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
Кл.слова (ненормированные):
Нанотехнологии -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Аннотация: Электронные микроскопы
Найти похожие
|
9.
|
Петров, А. Б.
Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа:
Галлямов, Р.Р.
Найти похожие
|
10.
|
Волков, А. Б.
Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом [Текст] / Волков А.Б., Неволин В.К. // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
Кл.слова (ненормированные):
Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства) -- Зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Доп.точки доступа:
Неволин, В.К.
Найти похожие
|
11.
|
Медовый, В. С.
Состав оборудования и системная платформа комплексов автоматизированной микроскопии [Текст] / В. С. Медовый [и др.] // Медицинская техника. - 2007. - N 2. - 29-36.-Библиогр.:30 назв. - Качество изображения в оптико-электронном тракте
Кл.слова (ненормированные):
Биомедицинские изображения -- среда IDL -- система сбора, обработки -- Биомедицинская информация -- Микроскопы туннельные сканирующие -- свойства микроконтактов
Аннотация: Комплекс автоматизированной микроскопии.
Доп.точки доступа:
Парпара, А.А.
Найти похожие
|
12.
| 62
Н 34
Юшкова, Н. А.
Анализ субъективной погрешности при измерении твердости по методу Бринелля [Текст] / Н. А. Юшкова ; науч. рук. В. М. Бастраков // Научному прогрессу - творчество молодых : сб. материалов Всерос. науч. студен. конф. по естественно- науч. и техн. дисциплинам, 20-21 апреля 2007 г. / [редкол.: Иванов В. А. и др.]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2007. - С. 113. - (75 лет МарГТУ)
. - 639635 кнхр
Кл.слова (ненормированные):
Порошковые материалы (качество) -- Микроскопы (виды) -- Инструментальный микроскоп -- Метод Бринелля (измерение твердости) -- ТРУДЫ МАРГТУ
Доп.точки доступа:
Бастраков, В.М. \науч. рук.\
Найти похожие
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный