Новиков, Ю. А. Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А. // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
Кл.слова (ненормированные): Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) |
ХХ!- век нано [Текст] // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
Кл.слова (ненормированные): Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники |
Родионов, Б. Н. Инструменты для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) Аннотация: Электронные микроскопы |
Петров, А. Б. Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества) Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р. |
Волков, А. Б. Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом [Текст] / Волков А.Б., Неволин В.К. // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства) -- Зонды туннельные(свойства микроконтактов) Доп.точки доступа: Неволин, В.К. |