Н 34 Уртминцева, А. С. Растровая электронная микроскопия [Текст] / А. С. Уртминцева, А. А. Шепелева ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых : материалы XII международной молодежной научной конференции по естественнонаучным и техническим дисциплинам (Йошкар-Ола, 21-22 апреля 2017 г.) : в 4 ч. / [редкол.: Д. В. Иванов и др.] ; М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т", Центр фундам. образования. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2017. - Ч. 2. - С. 65-66. - (Материаловедение и технология машиностроения). - Библиогр.: с. 66 (1 назв.) . - кнхр
Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ ПГТУ -- международные конференции -- студенческие конференции -- растровая электронная микроскопия -- электронно-зондовый микроанализ Доп.точки доступа: Шепелева, А. А. Крашенинникова, Н. Г. (кандидат физико-математических наук; доцент) \науч. рук.\ |
Сотников, Олег Семенович (доктор биологических наук; профессор). Механизм формирования двуядерных нейронов [Текст] / О. С. Сотников // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2017. - № 10. - С. 85-87 : 1 рис. - Библиогр.: с. 86 (4 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Наука. Науковедение Общие вопросы науки Здравоохранение. Медицинские науки Здравоохранение и медицинские науки в целом Кл.слова (ненормированные): двуядерные нейроны -- слияние нейронов -- щелевой контакт -- синцитиальная перфорация -- электрический синапс -- исследования -- анатомические структуры -- бинуклерные нейроны -- феномены демембранизации -- травматизм -- метоз -- электронная микроскопия -- дикарионы Аннотация: Рассмотрены три морфологических феномена демембранизации: электрический синапс, синцитий и таинственное происхождение бинуклерных нейронов, которых многие гистологи рассматривают как неполный митоз. |
Н 34 Ведушев, С. А. Методы исследования наноматериалов [Текст] / С. А. Ведушев ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых : сб. материалов Междунар. науч. студен. конф. по естественно- науч. и техн. дисциплинам, 18-19 апр. 2008 г. : в 3 ч. / М-во образования и науки РФ, Федер. агентство по образованию, Гос. ком. Респ. Марий Эл по проф. образованию, МарГТУ ; [редкол.: Иванов В. А. и др.]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2008. - Ч. 1. - С. 139-142. - (Прикладная и экологическая химия) . - 645898 кнхр
Кл.слова (ненормированные): Труды МарГТУ -- методы исследования -- наноматериалы -- нанонаука -- электронная микроскопия -- электроны -- диэлектрики Доп.точки доступа: Крашенинникова, Н.Г. \науч. рук.\ |
Н 34 Методы и алгоритмы обработки наноскопических изображений в реальном масштабе времени [Текст] / А. А. Баев [и др.] // Материалы одиннадцатой международной научной школы- семинар "Наука и инновации-2016" ISS "SI-2016" : материалы 8-го международного школы- семинара "Фундаментальные исследования и инновации: нанооптика, фотоника и когерентная спектроскопия", 5-12 июля 2016 года / Рос. фонд фундам. исслед., Фонд содействия развитию малых форм предприятий в науч.- техн. сфере, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т" [и др.]; [редкол.: Попов И. И., Козлов В. А., Самарцев В. В.]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2016. - С. 50-53 : 2 рис. - (Нанооптика, фотоника и когерентная спектроскопия). - Библиогр.: с. 53 (14 назв.) . - кнхр Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ ПГТУ -- микроскопия -- наноскопические изображения -- точечные отметки -- обработка данных Доп.точки доступа: Баев, А. А. Наумов, А. В. Еремчев, И. И. Роженцов, А. А. |
Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор). Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов [Текст] / В. Н. Игумнов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 5 (24). - С. 72-76 : 6 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 76 (7 назв.). - Реф. на англ. яз. Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): Оже-спектроскопия -- вжигание -- диоксиды рутения -- концентрационные профили -- оптическая электронная микроскопия -- процессы термообработки -- растровая электронная микроскопия -- резистивные материалы -- рентгеновский микроанализ -- сопротивление растекания контактов -- термоактивационная проводимость -- токопроводящие фазы -- толстопленочные резистивные элементы -- точечные контакты -- экспериментальные исследования -- электропроводность -- пгту в печати Аннотация: Приводятся результаты исследований распределения содержания токопроводящей фазы, а также распределения электропроводности в объеме резистивного элемента в результате термической обработки. |
Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств [Текст] / И. И. Попов [и др.] // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96 : 6 рис. - Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз. Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Физика Экспериментальные методы и аппаратура оптики Кл.слова (ненормированные): заданные параметры -- труды ПГТУ -- зондовая микроскопия -- магнетронное распыление -- методы моделирования -- наноразмерные пленочные структуры -- наноэлектронные материалы -- оптические свойства -- полупроводниковые кристаллиты -- полупроводниковые структуры -- рентгенодифракционный анализ -- текстурированность пленок -- тонкие пленки -- фотонное эхо -- функциональные покрытия Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами. Доп.точки доступа: Попов, Иван Иванович (доктор физико-математических наук; профессор) Вашурин, Никита Сергеевич (аспирант) Мороз, Андрей Викторович (аспирант) Степанов, Сергей Александрович (аспирант) Сушенцов, Николай Иванович (кандидат технических наук; доцент) Роженцов, Алексей Аркадьевич (доктор технических наук; профессор) Евдокимов, Алексей Олегович (кандидат технических наук; доцент) |
Измерение линейных размеров кремниевых элементов нанорельефа с профилем, близким к прямоугольному методом дефокусировки электронного зонда РЭМ [Текст] // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 6. - С. 420-425 : ил. - Библиогр.: с. 425(3 назв.)
Кл.слова (ненормированные): КРЕМНИЕВАЯ ТЕХНОЛОГИЯ(РАЗВИТИЕ) -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОСТРУКТУРЫ (ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ) Аннотация: На РЭМ исследованы одиночные кремниевые элементы нанорельефа с разной шириной. |
Соколова, О. С. Как увидеть "нано"? [Текст] / О. С. Соколова // Природа. - 2010. - N9. - С. 38-43. - Библиогр. в конце ст. . - НЧЗ
Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наночастицы -- электронная микроскопия -- криомикроскопия -- техногенные наночастицы |
Электронно-зондовая неразрушающая бесконтактная диагностика приборных структур микроэлектроники [Текст] // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 5. - С. 327-336. - Библиогр.: с. 336 (14 назв.)
Кл.слова (ненормированные): НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- микротомография Аннотация: Описан электронно-зондовый диагностический комплекс на базе растрового электронного микроскопа. позволяющий бесконтактным неразрушающим способом исследовать строение и архитектуру трехмерных приборных структур микроэлектроники. |
С 87 Таланцев, В. И. Исследование поверхности хлопковой целлюлозы методом полуконтактной атомно-силовой микроскопии (АСМ) [Текст] / В. И. Таланцев, Ю. Б. Грунин, Т. Л. Кудрявцев // Структура и динамика молекулярных систем : сб. статей ХVI всерос. конф. "Яльчик - 2009" . - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2009. - Ч.1. - С. 27-30 . - кнхр 646750
Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ МАРГТУ -- ХЛОПКОВАЯ ЦЕЛЛЮЛОЗА ДРЕВЕСНАЯ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Доп.точки доступа: Грунин, Ю.Б. Кудрявцев, Т.Л. |
Бесогонов, В. В. Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений [Текст] / В. В. Бесогонов, И. Н. Скворцова // Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРА -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПЫ ТУННЕЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ (СВОЙСТВА МИКРОКОНТАКТОВ) Доп.точки доступа: Скворцова, И.Н. |
И 66 Горинов, С. В. Разработка технологии высокоточной автоматической дифференциации клеток крови и других микрообъектов на основе метода получения объемных изображений и распознавания образов [Текст] / С. В. Горинов // Инновационные разработки вузовской науки - российской экономике : сб. ст. всерос. науч.- практ. конф. 11- 12 дек. 2008 г. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2008. - С. 80-85 . - 645879 кнхр Кл.слова (ненормированные): КЛЕТКИ КРОВИ -- МИКРООБЪЕКТЫ -- ОБЪЕМНЫЕ изображения -- ИНФОРМАТИЗАЦИЯ (фотографии) -- СКАНИРУЮЩАЯ микроскопия -- ТРЕХМЕРНЫЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ -- ТРУДЫ МАРГТУ |
Компьютерная обработка биомедицинских многоканальных изображений с использованием визуализации меры сходства с эталоном [Текст] // Изв.вузов. Приборостроение. - 2009. - Т. 52, № 8. - С. 74-80 . - Библиогр. : 7 назв.
Кл.слова (ненормированные): ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ (МЕДИЦИНСКИХ) -- МИКРОСКОПИЯ -- БИОМЕДИЦИНСКИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ (ОБРАБОТКА, СРЕДА IDL) |
Строкова, В. В. Количественный анализ микроструктуры композитов на основе минеральных вяжущих по РЭМ-изображениям [Текст] / В. В. Строкова, Р. В. Лесовик // Строительные материалы. - 2007. - N 7. - С. 65 - 67
Кл.слова (ненормированные): Композиты строительные -- Строительные композиты -- Минеральные вяжущие -- Вяжущие минеральные -- Рассеивающая электронная микроскопия -- РЭМ-изображения -- Строительное материаловедение -- Материаловедение строительное -- Исследование структур композитов -- Нанотехнологии Доп.точки доступа: Лесовик, Р. В. |
Баталин, В. С. Микроскопия самораспадающегося шлака и продуктов его гидратации [Текст] / В. С. Баталин, Н. Б. Курякова // Известия вузов. Строительство. - 2001. - N 7. - С. 34-39. - (Строительные материалы и изделия)
Кл.слова (ненормированные): Шлак -- Самораспадающийся шлак -- строительные материалы Доп.точки доступа: Курякова, Н. Б. |
Петров, А. Б. Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества) Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р. |
Воробьева, А. И. Кинетические особенности формирования столбиковых микроструктур методом анодного оксидирования [Текст] / Воробьева А.И. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 6.-С.445-458.-Библиогр.:18 назв.
Кл.слова (ненормированные): Столбиковые микроструктуры(формирование) -- Анодного оксидирования метод -- Микроэлектроника(технология) -- Электронная микроскопия -- Хроновольт-амперометрия |
Арутюнов, П. А. Фрактальный анализ анализанизотропных поверхностей [Текст] / Арутюнов П.А. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 6.-С.477-480.-Библиогр.:15 назв.
Кл.слова (ненормированные): Анизотропия поверхности материалов -- Топотезия -- Атомно-силовая микроскопия |
Гайнутдинов, Р. В. Проблема артефактов в атомно-силовой микроскопии [Текст] / Гайнутдинов Р.В., Арутюнов П.А. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.257-265.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные): Артефакты в атомно-силовой микроскопии -- Атомно-силовая микроскопия(артефакты) Доп.точки доступа: Арутюнов, П.А. |
Сравнительный анализ методов растровой электронной микроскопии полупроводников : электронно-индуцированного потенциала, одноконтактного наведенного тока, термоакустического детектирования [Текст] / Э. И. Рау и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.243-256.-Библиогр.:28 назв.
Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия полупроводников(методы) -- Полупроводники(методы электронной микроскопии) -- Электронно-индуцированного вотенциала метод -- Одноконтактного наведенного тока метод -- Термоакустического детектирования метод Доп.точки доступа: Рау, Э.И. Гостев, А.В. Чжу, Шичу Пханг, Д. Чан, Д. Тхонг, Д. Вонг, В. |