Корнилов, В. М. Исследование слоистых структур Si-SiO2 и Si-SiO2-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зоновой нанотехнологии [Текст] / В. М. Корнилов> // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 54-64. - Библиогр.: с. 64 (17 назв.)
Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД -- Туннельно-зондовой нанотехнологии -- СЛОИСТЫЕ СТРУКТУРЫ (ФОРМИРОВАНИЕ) -- НАНОСТРУКТУРНЫЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ (СВЕРХПЛАСТИЧНОСТЬ) |
Новиков, Ю. А. Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А.> // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
Кл.слова (ненормированные): Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) |
Гетероструктуры с квантовыми точками в системе JnAs/Si [Текст] / В.Н.Петров,Г.Э.Цирлин,А.О.Голубок и др.> // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.119-126.-Библиогр.:17 назв.
Кл.слова (ненормированные): Гетероструктуры с квантовыми точками(для новых приборов) -- Технологии новые(опто-и микроэлектроники) -- Дифракции быстрых электронов на отражение метод -- Сканирующей электронной микроскопии метод -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Трансмиссионной электронной микроскопии метод -- Фотолюминесценции метод -- Система JnAs/Si -- Кремниевые технологии Доп.точки доступа: Петров, В.Н. Цырлин, Г.Э. Голубок, А.О. Комяк, Н.И. Устинов, В.М. Леденцов, Н.Н. Алферов, Ж.И. Бимберг, Д. |
Суворов, А. Л. Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов [Текст] / А.Л.Суворов> // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2003. - N8. - 28-34.-Библиогр.:54 назв.
Кл.слова (ненормированные): Радиационные дефекты на поверхности -- Автономная микроскопия -- Зондовая микроскопия -- СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД |