Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 28 |
>1.
| 62 Н 34
Уртминцева, А. С. Растровая электронная микроскопия [Текст] / А. С. Уртминцева, А. А. Шепелева ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова> // Научному прогрессу - творчество молодых : материалы XII международной молодежной научной конференции по естественнонаучным и техническим дисциплинам (Йошкар-Ола, 21-22 апреля 2017 г.) : в 4 ч. / [редкол.: Д. В. Иванов и др.] ; М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т", Центр фундам. образования. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2017. - Ч. 2. - С. 65-66. - (Материаловедение и технология машиностроения). - Библиогр.: с. 66 (1 назв.)
. - кнхр
Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ ПГТУ -- международные конференции -- студенческие конференции -- растровая электронная микроскопия -- электронно-зондовый микроанализ
Доп.точки доступа: Шепелева, А. А. Крашенинникова, Н. Г. (кандидат физико-математических наук; доцент) \науч. рук.\
Найти похожие
|
>2.
|
Сотников, Олег Семенович (доктор биологических наук; профессор). Механизм формирования двуядерных нейронов [Текст] / О. С. Сотников> // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2017. - № 10. - С. 85-87 : 1 рис. - Библиогр.: с. 86 (4 назв.). - Реф. на англ. яз.
ББК 72
+ 5
Рубрики: Наука. Науковедение
Общие вопросы науки
Здравоохранение. Медицинские науки
Здравоохранение и медицинские науки в целом
Кл.слова (ненормированные): двуядерные нейроны -- слияние нейронов -- щелевой контакт -- синцитиальная перфорация -- электрический синапс -- исследования -- анатомические структуры -- бинуклерные нейроны -- феномены демембранизации -- травматизм -- метоз -- электронная микроскопия -- дикарионы Аннотация: Рассмотрены три морфологических феномена демембранизации: электрический синапс, синцитий и таинственное происхождение бинуклерных нейронов, которых многие гистологи рассматривают как неполный митоз.
Найти похожие
|
>3.
| 62 Н 34
Ведушев, С. А. Методы исследования наноматериалов [Текст] / С. А. Ведушев ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова> // Научному прогрессу - творчество молодых : сб. материалов Междунар. науч. студен. конф. по естественно- науч. и техн. дисциплинам, 18-19 апр. 2008 г. : в 3 ч. / М-во образования и науки РФ, Федер. агентство по образованию, Гос. ком. Респ. Марий Эл по проф. образованию, МарГТУ ; [редкол.: Иванов В. А. и др.]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2008. - Ч. 1. - С. 139-142. - (Прикладная и экологическая химия)
. - 645898 кнхр
Кл.слова (ненормированные): Труды МарГТУ -- методы исследования -- наноматериалы -- нанонаука -- электронная микроскопия -- электроны -- диэлектрики
Доп.точки доступа: Крашенинникова, Н.Г. \науч. рук.\
Найти похожие
|
>4.
| Ч2 Н 34
Методы и алгоритмы обработки наноскопических изображений в реальном масштабе времени [Текст] / А. А. Баев [и др.]> // Материалы одиннадцатой международной научной школы- семинар "Наука и инновации-2016" ISS "SI-2016" : материалы 8-го международного школы- семинара "Фундаментальные исследования и инновации: нанооптика, фотоника и когерентная спектроскопия", 5-12 июля 2016 года / Рос. фонд фундам. исслед., Фонд содействия развитию малых форм предприятий в науч.- техн. сфере, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т" [и др.]; [редкол.: Попов И. И., Козлов В. А., Самарцев В. В.]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2016. - С. 50-53 : 2 рис. - (Нанооптика, фотоника и когерентная спектроскопия). - Библиогр.: с. 53 (14 назв.)
. - кнхр ББК Ч2
Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ ПГТУ -- микроскопия -- наноскопические изображения -- точечные отметки -- обработка данных
Доп.точки доступа: Баев, А. А. Наумов, А. В. Еремчев, И. И. Роженцов, А. А.
Найти похожие
|
>5.
|
Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор). Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов [Текст] / В. Н. Игумнов> // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 5 (24). - С. 72-76 : 6 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 76 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные): Оже-спектроскопия -- вжигание -- диоксиды рутения -- концентрационные профили -- оптическая электронная микроскопия -- процессы термообработки -- растровая электронная микроскопия -- резистивные материалы -- рентгеновский микроанализ -- сопротивление растекания контактов -- термоактивационная проводимость -- токопроводящие фазы -- толстопленочные резистивные элементы -- точечные контакты -- экспериментальные исследования -- электропроводность -- пгту в печати Аннотация: Приводятся результаты исследований распределения содержания токопроводящей фазы, а также распределения электропроводности в объеме резистивного элемента в результате термической обработки.
Найти похожие
|
>6.
|
Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств [Текст] / И. И. Попов [и др.]> // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96 : 6 рис. - Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Экспериментальные методы и аппаратура оптики
Кл.слова (ненормированные): заданные параметры -- труды ПГТУ -- зондовая микроскопия -- магнетронное распыление -- методы моделирования -- наноразмерные пленочные структуры -- наноэлектронные материалы -- оптические свойства -- полупроводниковые кристаллиты -- полупроводниковые структуры -- рентгенодифракционный анализ -- текстурированность пленок -- тонкие пленки -- фотонное эхо -- функциональные покрытия Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами.
Доп.точки доступа: Попов, Иван Иванович (доктор физико-математических наук; профессор) Вашурин, Никита Сергеевич (аспирант) Мороз, Андрей Викторович (аспирант) Степанов, Сергей Александрович (аспирант) Сушенцов, Николай Иванович (кандидат технических наук; доцент) Роженцов, Алексей Аркадьевич (доктор технических наук; профессор) Евдокимов, Алексей Олегович (кандидат технических наук; доцент)
Найти похожие
|
>7.
|
Измерение линейных размеров кремниевых элементов нанорельефа с профилем, близким к прямоугольному методом дефокусировки электронного зонда РЭМ [Текст]> // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 6. - С. 420-425 : ил. - Библиогр.: с. 425(3 назв.)
Кл.слова (ненормированные): КРЕМНИЕВАЯ ТЕХНОЛОГИЯ(РАЗВИТИЕ) -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОСТРУКТУРЫ (ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ) Аннотация: На РЭМ исследованы одиночные кремниевые элементы нанорельефа с разной шириной.
Найти похожие
|
>8.
|
Соколова, О. С. Как увидеть "нано"? [Текст] / О. С. Соколова> // Природа. - 2010. - N9. - С. 38-43. - Библиогр. в конце ст.
. - НЧЗ
Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наночастицы -- электронная микроскопия -- криомикроскопия -- техногенные наночастицы
Найти похожие
|
>9.
|
Электронно-зондовая неразрушающая бесконтактная диагностика приборных структур микроэлектроники [Текст]> // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 5. - С. 327-336. - Библиогр.: с. 336 (14 назв.)
Кл.слова (ненормированные): НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- микротомография Аннотация: Описан электронно-зондовый диагностический комплекс на базе растрового электронного микроскопа. позволяющий бесконтактным неразрушающим способом исследовать строение и архитектуру трехмерных приборных структур микроэлектроники.
Найти похожие
|
>10.
| 54 С 87
Таланцев, В. И. Исследование поверхности хлопковой целлюлозы методом полуконтактной атомно-силовой микроскопии (АСМ) [Текст] / В. И. Таланцев, Ю. Б. Грунин, Т. Л. Кудрявцев> // Структура и динамика молекулярных систем : сб. статей ХVI всерос. конф. "Яльчик - 2009" . - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2009. - Ч.1. - С. 27-30
. - кнхр 646750
Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ МАРГТУ -- ХЛОПКОВАЯ ЦЕЛЛЮЛОЗА ДРЕВЕСНАЯ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа: Грунин, Ю.Б. Кудрявцев, Т.Л.
Найти похожие
|
>11.
|
Бесогонов, В. В. Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений [Текст] / В. В. Бесогонов, И. Н. Скворцова> // Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРА -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПЫ ТУННЕЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ (СВОЙСТВА МИКРОКОНТАКТОВ)
Доп.точки доступа: Скворцова, И.Н.
Найти похожие
|
>12.
| Ч48 И 66
Горинов, С. В. Разработка технологии высокоточной автоматической дифференциации клеток крови и других микрообъектов на основе метода получения объемных изображений и распознавания образов [Текст] / С. В. Горинов> // Инновационные разработки вузовской науки - российской экономике : сб. ст. всерос. науч.- практ. конф. 11- 12 дек. 2008 г. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2008. - С. 80-85
. - 645879 кнхр ББК Ч48
Кл.слова (ненормированные): КЛЕТКИ КРОВИ -- МИКРООБЪЕКТЫ -- ОБЪЕМНЫЕ изображения -- ИНФОРМАТИЗАЦИЯ (фотографии) -- СКАНИРУЮЩАЯ микроскопия -- ТРЕХМЕРНЫЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ -- ТРУДЫ МАРГТУ
Найти похожие
|
>13.
|
Компьютерная обработка биомедицинских многоканальных изображений с использованием визуализации меры сходства с эталоном [Текст]> // Изв.вузов. Приборостроение. - 2009. - Т. 52, № 8. - С. 74-80
. - Библиогр. : 7 назв.
Кл.слова (ненормированные): ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ (МЕДИЦИНСКИХ) -- МИКРОСКОПИЯ -- БИОМЕДИЦИНСКИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ (ОБРАБОТКА, СРЕДА IDL)
Найти похожие
|
>14.
|
Строкова, В. В. Количественный анализ микроструктуры композитов на основе минеральных вяжущих по РЭМ-изображениям [Текст] / В. В. Строкова, Р. В. Лесовик> // Строительные материалы. - 2007. - N 7. - С. 65 - 67
Кл.слова (ненормированные): Композиты строительные -- Строительные композиты -- Минеральные вяжущие -- Вяжущие минеральные -- Рассеивающая электронная микроскопия -- РЭМ-изображения -- Строительное материаловедение -- Материаловедение строительное -- Исследование структур композитов -- Нанотехнологии
Доп.точки доступа: Лесовик, Р. В.
Найти похожие
|
>15.
|
Баталин, В. С. Микроскопия самораспадающегося шлака и продуктов его гидратации [Текст] / В. С. Баталин, Н. Б. Курякова> // Известия вузов. Строительство. - 2001. - N 7. - С. 34-39. - (Строительные материалы и изделия)
Кл.слова (ненормированные): Шлак -- Самораспадающийся шлак -- строительные материалы
Доп.точки доступа: Курякова, Н. Б.
Найти похожие
|
>16.
|
Петров, А. Б. Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов> // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р.
Найти похожие
|
>17.
|
Воробьева, А. И. Кинетические особенности формирования столбиковых микроструктур методом анодного оксидирования [Текст] / Воробьева А.И.> // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 6.-С.445-458.-Библиогр.:18 назв.
Кл.слова (ненормированные): Столбиковые микроструктуры(формирование) -- Анодного оксидирования метод -- Микроэлектроника(технология) -- Электронная микроскопия -- Хроновольт-амперометрия
Найти похожие
|
>18.
|
Арутюнов, П. А. Фрактальный анализ анализанизотропных поверхностей [Текст] / Арутюнов П.А.> // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 6.-С.477-480.-Библиогр.:15 назв.
Кл.слова (ненормированные): Анизотропия поверхности материалов -- Топотезия -- Атомно-силовая микроскопия
Найти похожие
|
>19.
|
Гайнутдинов, Р. В. Проблема артефактов в атомно-силовой микроскопии [Текст] / Гайнутдинов Р.В., Арутюнов П.А.> // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.257-265.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные): Артефакты в атомно-силовой микроскопии -- Атомно-силовая микроскопия(артефакты)
Доп.точки доступа: Арутюнов, П.А.
Найти похожие
|
>20.
|
Сравнительный анализ методов растровой электронной микроскопии полупроводников : электронно-индуцированного потенциала, одноконтактного наведенного тока, термоакустического детектирования [Текст] / Э. И. Рау и др.> // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.243-256.-Библиогр.:28 назв.
Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия полупроводников(методы) -- Полупроводники(методы электронной микроскопии) -- Электронно-индуцированного вотенциала метод -- Одноконтактного наведенного тока метод -- Термоакустического детектирования метод
Доп.точки доступа: Рау, Э.И. Гостев, А.В. Чжу, Шичу Пханг, Д. Чан, Д. Тхонг, Д. Вонг, В.
Найти похожие
|
>21.
|
Арутюнов, П. А. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть II. [Текст] / Арутюнов П.А., Толстихина А.Л.> // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 1.-С.13-22.-Библиогр.:53 назв.
Кл.слова (ненормированные): Микроэлектроника(создание элементной базы) -- Наноэлектроника(создание элементной базы) -- Элементная база(микро- и наноэлектроники) -- Кантилеверы(новые конструкции) -- Сенсоры(новые конструкции) -- Элементы избирательно-чувствительные(сенсоры,кантилеверы) -- Нанометография(последние достижения)
Доп.точки доступа: Толстихина, А.Л.
Найти похожие
|
>22.
|
Арутюнов, П. А. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть 1. [Текст] / Арутюнов П.А., Толстихина А.Л.> // Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - 6.-С.405-414.-Библиогр.:90 назв.
Кл.слова (ненормированные): Атомно-силовая микроскопия(использование метода) -- Микроэлектроника(создание элементной базы) -- Элементная база микро- и наноэлектроники(проектирование) -- Элементы избирательно-чувствительные(новые конструкции)
Доп.точки доступа: Толстихина, А.Л.
Найти похожие
|
>23.
|
Суворов, А. Л. Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов [Текст] / А.Л.Суворов> // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2003. - N8. - 28-34.-Библиогр.:54 назв.
Кл.слова (ненормированные): Радиационные дефекты на поверхности -- Автономная микроскопия -- Зондовая микроскопия -- СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД
Найти похожие
|
>24.
|
Якимов, Е. Б. Определение локальных электрических параметров полупроводниковых материалов методами растровой электронной микроскопии [Текст] / Е.Б.Якимов> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2002. - N2. - С. 63-69
Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия(растровая) -- Полупроводниковые материалы(определение локальных электрических параметров) -- Растровая электронная микроскопия
Найти похожие
|
>25.
|
Нохрин, А. В. Исследование зеренной структуры нано- и микрокристаллических металлов методом атомно-силовой микроскопии [Текст] / А.В.Нохрин,И.М.Макаров> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2002. - N2. - С. 70-79
Кл.слова (ненормированные): Атомно-силовая микроскопия(изучение зеренной структуры металлов) -- Металлы(зеренная структура) -- Нанометаллы(зеренная структура) -- Микрокристаллические металлы(зеренная структура)
Доп.точки доступа: Макаров, И.М.
Найти похожие
|
>26.
|
Исследование частиц золота методом рентгеноспектрального микроанализа в криминалистике [Текст] / Кучкин А.В. [и др.]> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2001. - N12. - С. .3-7
Кл.слова (ненормированные): Растворовая электронная микроскопия(в криминалистике) -- Рентгеноспектральный анализ(в криминалистике золота) -- Микрозондовые методы локального анализа
Доп.точки доступа: Кучкин, А.В. Миловзоров, Н.Г. Фесенко, А.В. Харьков, Н.Е.
Найти похожие
|
>27.
|
Сюткин, Н. Н. Полевая ионная микроскопия как метод исследования структурных и фазовых изменений металлов и сплавов при ионной имплантации [Текст] / Сюткин Н.Н.> // Материаловедение. - 2001. - N12. - С. .2-5
Кл.слова (ненормированные): Метод полевой ионной микроскопии -- Полевая ионная микроскопия(метод) -- Микроскопия(полевая,ионная)
Найти похожие
|
>28.
|
Кириенко, О. Ф. Влияние фуллерена С60 на структуру поверхности трения меди по стали [Текст] / Кириенко О.Ф., Гинзбург Б.М.> // Проблемы машиностроения и надежности машин. - 2001. - N3. - С. 65-71
Кл.слова (ненормированные): Фуллерен С60 -- Медь(трение по стали) -- Микроскопия(сканирующая) -- Защитная пленка с повышенной твердостью
Доп.точки доступа: Гинзбург, Б.М.
Найти похожие
|
|