Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.


    Креницкий, А. П.
    Проблемы измерения диэлектрических характеристик нано- и микроразмерных сред в терагерцевом диапазоне частот 100-3000ГГц [Текст] / А.П.Креницкий // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N9. - 30-35.-Библиогр.:12 назв.
УДК
615.8

Кл.слова (ненормированные):
Производство наноэлектроники -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике) -- Измерения(параметров транзисторов) -- Нанотехнологии
Аннотация: Точность и быстродействие измерений в микро- и нанометровом масштабе

Найти похожие
2.


    Широтов, В. В.
    Частотно-селективный Джозефсоновский детектор импульсного субтерагерцового излучения[Текст] [Текст] / В.В.Широтов, Ю.Я.Дивин // Радиотехника и электроника. - 2004. - Т.4. - №9.-С.1135-1139. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК
621.385.6

Кл.слова (ненормированные):
Детектор сигналов цифровой(быстродействующий) -- Тонкие пленки(исследование проводимости) -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)
Доп.точки доступа:
Дивин, Ю.Я.


Найти похожие
3.


   
    Расширение информативности равновесной вольт-емкостной спектроскопии локализованных электронных состояний у гетерограниц полупроводник/диэлектрик[Текст] [Текст] // Микроэлектроника. - 2004. - Т.3. - 4.-С.277-289.-Библиогр.: с.288-289. - (Получение и свойства микроэлектронных структур)
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике) -- Спектральные свойства(исследования)

Найти похожие
4.


    Орликовский, А. А.
    Диагностика in situ плазменных технологических процессов микроэлектроники : современное состояние и ближайшие перспективы. Часть 1. [Текст] / Орликовский А.А., Руденко К.В. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.85-105.-Библиогр.:26 назв.
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектронная технология(мониторинг процессов in situ) -- Плазменные технологические процессы(диагностика in situ) -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике) -- Масс-спектрометрия in situ -- Зондовые методы диагностики(процессов травления) -- СВЧ-диагностика плазмы -- Термометрия поверхности
Доп.точки доступа:
Руденко, К.В.


Найти похожие
5.


   
    Современные средства и методы акустооптической спектрометрии [Текст] // Успехи современной радиоэлектроники. - 2007. - N8. - 48-55.-Библиогр.:7 назв.
УДК
534/535

Кл.слова (ненормированные):
Спектральный анализ -- Мониторинг водной поверхности(радиометрический комплекс) -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике) -- Спектроанализатор
Аннотация: Зондирование водной поверхности, фотолюминесцентная спектроскопия, диагностика драгоценных камней.

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 02.06.2024
Число запросов 47391
Число посетителей 1255
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».