Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Статьи (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-12

   55
   К 82


    Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия [Текст] : учебник для вузов по специальностям. "Физика металлов" и "Металловедение, оборудование и технология термической обработки металлов" / Я. С. Уманский, Ю. А. Скаков, А. Н. Иванов, Л. Н. Расторгуев. - Москва : Металлургия, 1982. - 631 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 628 - 631. - 1.40 р.

ГРНТИ	29.19
УДК	548(075.8)	551(075.8)

ББК 22.37я73

Рубрики: Физика твердого тела--Кристаллография

Рентгенография

Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
учебники -- физика твердого тела -- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ -- рентгенография -- электронная микроскопия
Доп.точки доступа:
Уманский, Яков Семенович
Скаков, Юрий Александрович
Иванов, Александр Николаевич
Расторгуев, Леонид Николаевич

Экземпляры всего: 2
чз№1 (1), кнхр (1)
Свободны: чз№1 (1), кнхр (1)

Найти похожие

30.3я73
П 85

Пряхин, Е. И.
Наноматериалы и нанотехнологии [Электронный ресурс] / Е. И. Пряхин, С. А. Вологжанина, А. П. Петкова, О. Ю. Ганзуленко. - 2-е изд., стер. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 372 с. - ISBN 978-5-8114-9299-2 : Б. ц.

УДК

30.3я73

ББК 620.22(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
Алмаз -- графит -- аморфный углерод -- карбин -- структура -- электронная микроскопия -- наночастица -- аддитивные технологии -- аморфная структура -- сплав -- полимер -- композиционный наноматериал -- композит -- металл -- эбс лань
Аннотация: Развитие материаловедения во многом определяет прогресс современного машиностроения, так как именно создание новых материалов и разработка передовых технологий дают возможность создавать новую, не имеющую аналогов технику. С прогрессом материаловедения связано развитие важнейших отраслей промышленности: машиностроения, химии, строительства, транспорта, судостроения, авиастроения, создание новых видов космической техники. Научно-техническая революция и такие новые отрасли техники, как ракетостроение, энергетика, управление термоядерными процессами, освоение космоса, физика высоких энергий, также обязаны своим появлением прогрессу материаловедения. Революционную роль в электронике и радиотехнике, в авиации и ракетостроении сыграли разработанные в последние годы нанокристаллические материалы и композиционные материалы на их основе. В учебнике рассмотрены свойства и области применения современных наноструктурных материалов. Изложены технология изготовления наноматериалов и принципы выбора материалов для различной техники с учетом конкретных условий ее применения. Учебник предназначен студентам высших учебных заведений, обучающихся по программам бакалавриата и магистратуры направлений подготовки «Материаловедение и технологии материалов», «Металлургия», и аспирантам направления подготовки «Технологии материалов». Может быть рекомендован студентам и аспирантам машиностроительных и общетехнических вузов, а также преподавателям, инженерно-техническим работникам заводов, научно-исследовательских и проектных организаций.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Вологжанина, С. А.
Петкова, А. П.
Ганзуленко, О. Ю.

Найти похожие

RU-LAN-BOOK-73017

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки

УДК

537.533.35

ББК В338.4

Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера

Кл.слова (ненормированные):
акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.

Найти похожие

Груздов, Вадим Владимирович.
Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Электронный ресурс] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 328 с. : ил. - Библиогр.: с. 302-327. - ISBN 978-5-94836-426-1 : Б. ц.

Рубрики: Транзисторы сверхвысокочастотные

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- омические контакты -- рентгеновские методы -- аппаратура -- нитрид-галлиевые приборы -- примеси -- электронная спектроскопия -- стандарты -- интеллектуальная собственность -- СВЧ-транзисторы -- СВЧ-электроника -- создание -- технологические процессы -- широкозонные материалы -- выявление -- дефекты -- гетероструктуры -- оптические методы -- качество -- электрический контроль -- тепловой контроль -- ЭБС ЛАНЬ
Аннотация: "В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе. Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры."
В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе.Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович

Найти похожие

   61
   П 57

    Попечителев, Евгений Парфирович.
    Технические методы диагностики биоматериалов [Текст] : [учебное пособие для студентов вузов по направлению подготовки "Биотехнические системы и технологии"] / Е. П. Попечителев. - Старый Оскол : ТНТ, 2014. - 315 с. : ил. - (Тонкие наукоемкие технологии : ТНТ). - Библиогр.: с. 303-304 (16 назв.). - ISBN 978-5-94178-429-5 : 577.50 р.

ГРНТИ	76.09
УДК	615.46(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
БИОМАТЕРИАЛЫ -- ГРИФ УМО ВУЗОВ РФ ПО ОБРАЗОВАНИЮ В ОБЛАСТИ РАДИОТЕХНИКИ, ЭЛЕКТРОНИКИ, БИОМЕДИЦИНСКОЙ ТЕХНИКИ И АВТОМАТИЗАЦИИ -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- ДИАГНОСТИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ -- ДИАГНОСТИКА БИОМАТЕРИАЛОВ -- ХРОМАТОГРАФИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ -- ХРОМАТОГРАФИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЯДЕРНЫЙ МАГНИТНЫЙ РЕЗОНАНС -- ЭПР-ДОЗИМЕТРИЯ -- МАГНИТОРЕЗОНАНСНАЯ ТОМОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТОМОГРАФИЯ МЕДИЦИНСКАЯ
Экземпляры всего: 5
чз№2 (1), абунл (3), кнхр (1)
Свободны: чз№2 (1), абунл (3), кнхр (1)

Найти похожие

   006.91
   К 27

    Карцев, Евгений Александрович.
    Основы нанометрологии [Текст] : [учебное пособие по дисциплине "Методы и средства измерений, испытаний и контроля", изучаемой по специальности 22051 "Управление качеством"] / Е. А. Карцев, А. И. Юрин ; М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Моск. гос. ин-т электроники и математики (техн. ун-т)". - Москва : Моск. гос. ин-т электроники и математики, 2012. - 136 с. : рис. - ISBN 978-5-94506-331-0 : 310.53 р.

ГРНТИ	90.01.33
УДК	006.91-022.532(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
нанометрология -- ГРИФ РИС МОСКОВСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО института электроники и математики -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- НАНООБЪЕКТ -- НАНОИЗМЕРЕНИЯ -- МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ наноизмерений -- нанопокрытия -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- метрология
Доп.точки доступа:
Юрин, Александр Игоревич

Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

   621.38
   П 56

    Пономаренко, Владимир Павлович.
    Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946-2006) [Текст] : [научное издание] / В. П. Пономаренко, А. М. Филачев. - Изд. 2-е, стер. - Москва : Физматкнига, 2008. - 334 с. : ил., фото. - ISBN 978-5-89155-175-6 : 252.00 р.

ГРНТИ	47.57
УДК	621.384.3(09)	681.7(09)

Кл.слова (ненормированные):
ИНФРАКРАСНАЯ физика -- ЛАЗЕРНАЯ физика -- ПРИБОРЫ ночного видения -- ТЕХНИКа ночного видения -- фотоэлектроника -- ТЕПЛОВИЗИОННЫе приборы -- ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ -- ЛАЗЕРНЫЕ ПРИборы -- ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
Доп.точки доступа:
Филачев, Анатолий Михайлович

Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

   58(03)
   С 74


    Справочник по ботанической микротехнике [Текст] : основы и методы / Р. П. Барыкина [и др.]. - М. : Изд-во МГУ, 2004. - 311 c. - ISBN 5-211-06103-9 : 225.50 р.

ГРНТИ	34.29
УДК	58.08(03)

Кл.слова (ненормированные):
СПРАВОЧНИКИ -- БИОЛОГИЧЕСКИЕ исследования -- КЛЕТКА (исследование) -- гистохимические исследования -- РАСТИТЕЛЬНЫЙ материал -- анатомические исследования -- ЭМБРИОЛОГИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ -- ВНУТРИклеточные органоиды -- цитологические исследования -- люминесцентная микроскопия -- окрашивание клеточных структур -- БОТАНИЧЕСКАЯ микротехника -- флуорохромирование -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ препараты -- СВЕТОВАЯ микроскопия -- МИКРОСКОПЫ световые -- ГИСТОХИМИЧЕСКИЕ РЕАКЦИИ
Доп.точки доступа:
Барыкина, Римма Павловна
Веселова, Татьяна Дмитриевна
Девятов, Андрей Григорьевич
Джалилова, Халима Халиловна
Ильина, Галина Михайловна
Чубатова, Нина Владимировна

Экземпляры всего: 2
чз№1 (1), кнхр (1)
Свободны: чз№1 (1), кнхр (1)

Найти похожие

   620.3
   Г 60

    Головин, Юрий Иванович.
    Наномир без формул [Текст] / Ю. И. Головин ; под ред. Л. Н. Патрикеева. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 543 с. : ил. - ISBN 978-5-9963-0292-5 : 630.00 р.

81.13.01
УДК	620.3(075)

Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- УЧЕБНЫЕ ИЗДАНИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- наночастицы -- нанопорошки -- ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ НАНОСТРУКТУРЫ -- наноэлектроника -- нанотехника -- наноприборы -- нанобиотехнология -- наномедицина -- наноэтика -- нанонаука
Доп.точки доступа:
Патрикеев, Л. Н. \ред.\

Экземпляры всего: 2
чз№2 (1), кнхр (1)
Свободны: чз№2 (1), кнхр (1)

Найти похожие

10.

   620.3
   Г 96

    Гусев, Александр Иванович.
    Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии [Текст] / А. И. Гусев. - Изд. 2-е, испр. - М. : Физматлит, 2009. - 414 c. : ил. - ISBN 978-5-9221-0582-8 : 469.00 р.

81.09.01
УДК	620.3	620.22-022.532

Кл.слова (ненормированные):
НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОСТРУКТУРЫ -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОРОШКИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- НАНОЧАСТИЦЫ -- АМОРФНЫЕ СПЛАВЫ -- НАНОПОРОШКИ
Экземпляры всего: 9
чз№1 (1), чз№2 (3), абунл (4), кнхр (1)
Свободны: чз№1 (1), чз№2 (3), абунл (4), кнхр (1)

Найти похожие

1-10 11-12

Тематический навигатор

Статистика за 21.05.2024
Число запросов	14869
Число посетителей	453
Число заказов	0