Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
 Найдено в других БД:Статьи (18)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=пленка<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.


    Смирнов, Ю. А.
    Физические основы электроники [Электронный ресурс] / Ю. А. Смирнов, С. В. Соколов, Е. В. Титов. - 2-е изд., испр. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 560 с. - ISBN 978-5-8114-1369-0 : Б. ц.

Кл.слова (ненормированные):
p-n-переходы -- биполярные транзисторы -- диод -- диэлектрические пленки -- избирательные усилители -- металлические пленки -- микросхема интегральная -- микроэлектроника -- микроэлектронные структуры -- операционные усилители -- пленка диэлектрическая -- пленка металлическая -- пленочные структуры -- полупроводники -- полупроводниковая электроника -- полупроводниковые диоды -- полупроводниковые приборы -- полупроводниковые резисторы -- полупроводниковые структуры -- полупроводниковые структуры пленочные структуры -- пособия для бакалавров -- пособия для магистров -- приборы полупроводниковые -- процесс кинетический -- резистор -- система тонкопленочная -- структура микроэлектронная -- структуры пленочные -- структуры полупроводниковые -- техника -- тиристор -- тиристоры -- тонкие пленки -- транзистор -- транзисторные каскады -- транзисторные усилители -- униполярные транзисторы -- усилители мощности -- усилители напряжения -- усилители постоянного тока -- усилитель операционный -- усилительные каскады -- учебные пособия -- физика полупроводников -- физические методы электроники -- физические основы электроники -- электроника -- электроника (основы) -- электроника полупроводниковая -- электронно-дырочные переходы -- электрофизика -- эмиссия туннельная -- эффект туннельный -- эбс лань
Аннотация: В книге изложены историческая справка физики становления и развития полупроводниковой электроники, физические основы полупроводниковых и пленочных структур, физические основы построения элементной базы приборов и устройств на ее основе, их упрощенного математического анализа. Пособие содержит контрольные вопросы, задачи с решениями и рекомендуемую литературу для углубленного изучения материала. Предназначено для подготовки бакалавров, магистров и специалистов направлений: «Электроэнергетика и электротехника», «Электроника и наноэлектроника», «Радиотехника», «Информационные технологии и системы связи», «Конструирование технологии и микросистемная техника».
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Соколов, С. В.
Титов, Е. В.


Найти похожие
2.


    Ефимов, И. Е.
    Основы микроэлектроники [Электронный ресурс] / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь. - 3-е изд. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 384 с. - ISBN 978-5-8114-0866-5 : Б. ц.

Кл.слова (ненормированные):
учебник -- интегральные микросхемы -- микросхемотехника -- микроэлектроника -- акустоэлектроника -- биополярные транзисторы -- биоэлектроника -- биполярные транзисторы -- биполярный -- бис -- большие интегральные микросхемы -- большие интегральные системы -- большие интегральные схемы -- герметизация -- гибридная -- гибридные интегральные микросхемы -- диод -- диоды -- диэлектрическая -- диэлектрическая электроника -- изоляция -- имс -- интегральная -- интегральные микросхемы качество надежность применение -- интегральные схемы -- качество -- конденсатор -- конденсаторы -- мдп -- мдп-транзисторы -- межслойный -- микропроцессор -- микропроцессоры -- микросхема -- микросхемы для аппаратуры связи -- миниатюризация -- надежность -- оптоэлектроника -- основы -- пленка -- полупроводники -- полупроводниковая -- полупроводниковые интегральные микросхемы -- полупроводниковые интегральные системы -- полупроводниковые интегральные схемы -- полупроводниковые конденсаторы -- полупроводниковые резисторы -- развитие -- развитие микроэлектроники -- резистор -- резисторы -- сборка -- создание интегральных микросхем -- схемотехника -- тонкая -- транзистор -- транзисторы -- учебник и пособие -- учебники -- учебники для вузов -- функциональная -- функциональная микроэлектроника -- хемотроника -- электроника -- электронная аппаратура -- электротехника -- эбс лань
Аннотация: В учебнике изложены основные направления развития микроэлектроники: рассмотрены физические основы, конструкция, технология, структурные элементы и аспекты проектирования интегральных микросхем (ИМС) и больших интегральных схем (БИС). Рассмотрены отдельные технологические процессы, схемотехнические решения, машинные методы проектирования и изготовления изделий микроэлектроники. Учебник предназначен для студентов технических вузов и университетов, изучающих микроэлектронику.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Козырь, И. Я.


Найти похожие
3.
623.445
Л 38

   
    Легкие баллистические материалы [Электронный ресурс]. - Москва : Техносфера, 2011. - 392 с. - ISBN 978-5-94836-163-5 : Б. ц.
УДК
623.445
ББК 68.512

Кл.слова (ненормированные):
азиатский -- бронежилет -- бронежилеты -- бронематериал -- винтовка -- винтовки (оружие) -- волокнистые материалы -- волокно -- вооруженные силы (ракетостроение) -- деформация -- европейский -- каска -- каски -- керамика -- композит -- легкие баллистические материалы -- материалы баллистические -- матрица -- нагрудная -- огнестрельное -- оружие -- оружие огнестрельное -- осколок -- пистолет -- пистолеты (оружие) -- пластина -- пленка -- препреги -- пуля -- средства индивидуальной защиты -- термореактивная -- техника военная -- удар -- учебное пособие -- щит -- эбс лань -- эбс лань -- эбс лань -- эбс лань -- эбс лань -- эбс лань
Аннотация: В книге рассмотрен новый класс материалов, из которых делают легкую броню. Производство таких изделий в последнее время выделилось в самостоятельную индустрию. Показаны требования, предъявляемые к лeгким баллистическим материалам, методы их испытания и сферы применения. Представлены облегченные волокнистые материалы, из которых делают средства индивидуальной защиты – бронежилеты, каски и броню транспортных средств. Книга состоит из введения и двух основных частей, написанных разными авторами и собранными в единое издание под редакцией А. Бхатнагара. Впервые сделана попытка собрать наиболее полную информацию по данной теме. Издание поможет специалистам лучше разобраться в новейших легких бронематериалах и взаимозависимости их технических характеристик
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Найти похожие
4.
RU-LAN-BOOK-73017

    Кларк, Э. Р.
    Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
УДК
537.533.35
ББК В338.4

Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера

Кл.слова (ненормированные):
акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 01.06.2024
Число запросов 33772
Число посетителей 963
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».