Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Найдено в других БД:

Статьи (3)

Полные тексты изданий ПГТУ (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

RU-LAN-BOOK-73017

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки

УДК

537.533.35

ББК В338.4

Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера

Кл.слова (ненормированные):
акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.

Найти похожие

Груздов, Вадим Владимирович.
Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Электронный ресурс] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 328 с. : ил. - Библиогр.: с. 302-327. - ISBN 978-5-94836-426-1 : Б. ц.

Рубрики: Транзисторы сверхвысокочастотные

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- омические контакты -- рентгеновские методы -- аппаратура -- нитрид-галлиевые приборы -- примеси -- электронная спектроскопия -- стандарты -- интеллектуальная собственность -- СВЧ-транзисторы -- СВЧ-электроника -- создание -- технологические процессы -- широкозонные материалы -- выявление -- дефекты -- гетероструктуры -- оптические методы -- качество -- электрический контроль -- тепловой контроль -- ЭБС ЛАНЬ
Аннотация: "В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе. Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры."
В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе.Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович

Найти похожие

   53
   И 88


    Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии [Текст] : методические указания к выполнению лабораторной работы : [для студентов направлений подготовки 11.03.01, 11.03.02, 11.03.03, 11.03.04, 12.03.04, 27.03.04, 27.03.02] / М-во образования и науки Рос. Федерации, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т" ; [сост. В. Е. Филимонов]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2016. - 28 с. : ил. - Библиогр.: с. 28 (4 назв.). - 13.00 р., 12.86 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	539.2(07)	537.533.35(07)	543.42(07)	543.456(07)

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- МИКРОСКОПЫ -- АТОМНО-СИЛОВЫЕ микроскопы -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- спектроскопия -- нанотехнологии -- NANOEDUCATOR (ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП) -- ТВЕРДОЕ ТЕЛО
Перейти к внешнему ресурсу Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\

Экземпляры всего: 43
чз№2 (2), абунл (41)
Свободны: чз№2 (2), абунл (41)

Найти похожие

   620.3
   Н 25


    Нанобиотехнологии [Текст] : практикум / [А. М. Абатурова и др.] ; под ред. А. Б. Рубина. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 384 с. : ил. - ISBN 978-5-9963-0627-5 : 477.00 р.

ГРНТИ	81.13.01
УДК	620.3(076.5)	573.6(076.5)	60(076.5)

Кл.слова (ненормированные):
НАНОБИОТЕХНОЛОГИЯ -- ПРАКТИКУМЫ -- БИОЛОГИЧЕСКИЕ МЕМБРАНЫ -- МЕМБРАНЫ биологические -- БИОЛОГИЧЕСКИЕ структуры -- БИОТЕХНОЛОГИЯ -- нанотрубки -- НАНООБЪЕКТы -- НАНОРАЗМЕРНЫЕ лекарственные средства -- ЛЕКАРСТВЕННЫЕ СРЕДСТВА наноразмерные -- АТОМНО-силовая микроскопия -- МИКРОСКОПИЯ атомно-силовая -- СПЕКТРОСКОПИЯ КР -- наноструктуры -- ЛАЗЕРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- наноматериалы -- ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа:
Абатурова, А. М.
Багров, Д. В.
Байжуманов, А. А.
Бонарцев, А. П.
Рубин, А. Б. \ред.\

Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 01.06.2024
Число запросов	33954
Число посетителей	964
Число заказов	0