Горлов, М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные): Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий Доп.точки доступа: Строгонов, А.В. Смирнов, Д.Ю. |
Строгонов, А. В. Долговечность сумикронных БИС и ПЛИС[Текст] [Текст] / Строгонов, А.В. // Микроэлектроника. - 2005. - Т.3. - N2.-С.138-158. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные): Большие интегральные схемы(обзор,технологии) -- ПЛИС(история развитие,применение) |
Горлов, М. И. Геронтология кремниевых интегральных схем [Текст] / Горлов М.И., Строгонов А.В. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные): Кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности) -- Контроль качества электроники Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем Доп.точки доступа: Строгонов, А.В. |