П 85 Пряников, В. С. Автоматизированная система отбраковки потенциально ненадежных транзисторов [Текст] / , 12 В. С. Пряников // Наукоемкие технологии. - Т. 18, № 8. - Библиогр.: 3 назв. . - ISSN 1999-8465
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): низкочастотные шумы -- транзисторы -- входной контроль -- автоматизированные системы -- малошумящие усилители -- радиоэлектронные системы Аннотация: Предложена автоматизированная система отбраковки потенциально ненадежных транзисторов по уровню низкочастотного шума. Показано, что реализация на входном контроле этой системы значительно повышает эксплуатационную надежность радиоэлектронных систем. Особое внимание уделено разработке избирательного малошумящего усилителя.Ensuring the reliability of radio electronic equipment, especially on-board information management systems is very important. Earlier, the relationship between low-frequency noise (flicker effect) and failure of semiconductor devices was established. The technique of the input control and rejection of potentially unreliable transistors was developed. In this technique, to determine the level of rejection, statistical processing of the internal noise level in manual was required, which takes a lot of time. In this paper, we consider an automated system for rejecting potentially unreliable transistors using modern highly sensitive equipment and computer equipment. Particular attention is paid to the development of a selective low-noise amplifier. Automated system of rejection of potentially unreliable transistors is recommended to be used at the input control in the production of especially important radio electronic equipment. Доп.точки доступа: Чувашский государственный университет (Чебоксары) |