Гмошинский, И. В.
    Современное состояние проблемы оценки безопасности наноматериалов [Текст] / И. В. Гмошинский, В. В. Смирнова, С. А. Хотимченко // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, N 9-10. - С. 6-10
УДК

Кл.слова (ненормированные):
БЕЗОПАСНОСТЬ НАНОМАТЕРИАЛОВ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ
Аннотация: Физико-химические особенности поведения веществ в наноразмерном состоянии.
Доп.точки доступа:
Смирнова, В. В.
Хотимченко, С.А.





    Пшеничнюк, С. А.
    Метод спектроскопии электронного захвата для исследований электронной структуры молекул органических полупроводников [Текст] / С. А. Пшеничнюк, А. В. Кухто // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 82-89. - Библиогр.: с. 89 (38 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
СПЕКТРОСКОПИЯ -- метод спектроскопии -- МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ -- Органические ПОЛУПРОВОДНИКИ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ (МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ)
Доп.точки доступа:
Кухто, А.В.





    Юсупов, А. Р.
    Особенности свойств транзистора вертикального типа на основе несопряженного полимера [Текст] / А. Р. Юсупов, Р. М. Гадиев // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 71-75. - Библиогр.: с. 75 (12 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
ТРАНЗИСТОРЫ ПОЛЕВЫЕ -- ТОНКОПЛЕНОЧНОЕ ПОКРЫТИЕ -- вертикальный тонкопленочный транзистор
Доп.точки доступа:
Гадиев, Р.М.





   
    Наноструктурированные прозрачные электропроводящие полимерные материалы в токособирающей системе кремниевых солнечных элементов [Текст] // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 65-70. - Библиогр.: с. 70 (8 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ МАТЕРИАЛЫ (ПОЛУЧЕНИЕ, СВОЙСТВА, ПРИМЕНЕНИЕ) -- ПОЛИМЕРНЫЕ МАТЕРИАЛЫ (ПРИМЕНЕНИЕ В ЭЛЕКТРОНИКЕ) -- СОЛНЕЧНЫЕ БАТАРЕИ (ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ)




    Корнилов, В. М.
    Исследование слоистых структур Si-SiO2 и Si-SiO2-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зоновой нанотехнологии [Текст] / В. М. Корнилов // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 54-64. - Библиогр.: с. 64 (17 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД -- Туннельно-зондовой нанотехнологии -- СЛОИСТЫЕ СТРУКТУРЫ (ФОРМИРОВАНИЕ) -- НАНОСТРУКТУРНЫЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ (СВЕРХПЛАСТИЧНОСТЬ)




    Никитенко, В. Р.
    Метастабильные электронно-дырочные пары в органических наноструктурах [Текст] / В. Р. Никитенко, А. Р. Тамеев, А. В. Ванников // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 29-33. - Библиогр.: с. 33 (21 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
структура металл-органика- металл -- ОРГАНИЧЕСКИЕ НАНОСТРУКТУРЫ -- НАНОТЕХНОЛОГИИ В БИОЛОГИИ -- НАНОСТРУКТУРНЫЕ КОНСТРУКЦИОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ И СПЛАВЫ
Доп.точки доступа:
Тамеев, А.Р.
Ванников, А.В.





    Салазкин, С. Н.
    Синтез фталидсодержащих полимеров, перспективных для создания функциональных материалов различного назначения. [Текст] / С. Н. Салазкин, В. В. Шапошникова // Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 3-28
УДК

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛИМЕРЫ -- ПОЛИМЕРЫ (ИХ ПРЕИМУЩЕСТВА) -- НАНОМАТЕРИАЛЫ (ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ)
Доп.точки доступа:
Шапошникова, В.В.





    Кузнецов, Г. В.
    Численное моделирование температурных полей узлов и блоков радиоэлектронной аппаратуры и электронной техники [Текст] / Г. В. Кузнецов, М. А. Шеремет // Микроэлектроника. - 2009. - Т. 38, № 5. - С. 344-352. - Библиогр.: 17 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
НАНОМАТЕРИАЛЫ (ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ) -- МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ В ЭЛЕКТРОНИКЕ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- ТЕПЛОПЕРЕНОС -- РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ АППАРАТУРА (СИСТЕМА ОХЛАЖДЕНИЯ) -- РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ АППАРАТУРА (УСТРОЙСТВА ОХЛАЖДЕНИЯ, ТЕРМОСТАБИЛИЗАЦИИ)
Доп.точки доступа:
Шеремет, М.А.