Серых, В. П.
    К уточнению периодов трансляционных ячеек по интегральным дифрактограммам поликристалла [Текст] / Серых В.П. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2001. - N10. - 67.-С.22-26
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Дифрактограммы поликристалла -- Поликристалл(дифрактограмма) -- Межплоскостные расстояния




    Иванов, А. Н.
    Определение параметров субструктуры по профилю одной дифракционной линии [Текст] / Иванов А.Н., Загарова Н.Г. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2001. - N10. - 67.-С.20-22
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Субкультура(параметры) -- Профиль одной дифракционной линии -- Дислокация(плотность)
Доп.точки доступа:
Загарова, Н.Г.





    Коновалов, А. Б
    Экспериментальный способ определения эффективных атомного номера и электронной плотности органических пластиков по данным мультиспектральной рентгеновской компьютерной томографии [Текст] / Коновалов А.Б, Волегов П.Л., Дмитраков Ю.Л. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2001. - N2. - С. 23-26
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Атомный номер(эффективный) -- Мультиспектральная рентгеновская компьютерная томография(измерение атомного номера)
Доп.точки доступа:
Волегов, П.Л.
Дмитраков, Ю.Л.





    Иванов, А. Н.
    Исследование субструктуры металлов рентгеновскими методами [Текст] / Иванов А.Н., Климанек П., Поляков А.М. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2000. - N8. - С. 7-10
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Металлы(субструктура) -- Рентгеновские методы(исследование металлов)
Доп.точки доступа:
Климанек, П.
Поляков, А.М.





    Косенков, В. М.
    Ренгеноструктурный анализ высокорадиоактивных материалов [Текст] / Косенков В.М., Воробьев С.А. // Природа. - 2000. - N3. - С. 13-21
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Ренгенография -- Ренгеноструктурный анализ
Доп.точки доступа:
Воробьев, С.А.