П 42 Исследование методом фотонного эха оптических свойств структур нанометрового диапазона в тонких полупроводниковых пленках [Текст] / Н. С. Вашурин [и др.] // Труды Поволжского государственного технологического университета. Серия Технологическая / [отв. и науч. ред. В. А. Иванов] ; М-во образования и науки Рос. Федерации, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т" . - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2014. - Вып. 2. - С. 69-74. - (Радиотехнические, инфокоммуникационные и медико-биологические системы). - Библиогр.: с. 74 (10 назв.) . - 666848 кнхр
Кл.слова (ненормированные): ТРУДЫ ПГТУ -- фотонное эхо -- фемтосекундное фотонное эхо -- полупроводниковые пленки -- тонкие пленки -- дефекты кристаллической структуры -- экситоны Аннотация: В статье описываются результаты исследования методом фемтосекундного фотонного эха тонких полупроводниковых пленок, изготовленных методом магнетронного распыления. Доп.точки доступа: Вашурин, Н. С. Попов , И. И. Сушенцов, Н. И. Степанов, С. А. |