Гусев, А. Малые выборки при оценке работоспособности и надежности электронных компонентов. Часть 2 [Текст] / А.Гусев,Э.Лидский,О.Мироненко // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N3. - С. 47-50. - (Надежность). - Библиогр.: с. 50 (11 назв.)
Кл.слова (ненормированные): Электронные компоненты (оценка надежности, работоспособности) -- Надежность электронных компонентов -- Микроконтроллеры (испытания) Доп.точки доступа: Лидский, Э. Мироненко, О. |