Масальский, Н. В.
    Полностью объединенные КМОП КНИ логические элементы для низковольтных применений [Текст] / Н.В.Масальский // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.470-478.-Библиогр.:5 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
КМОП-схемы -- Тестовые структуры МДП-"кремний-на-диэлектрике"-транзистора -- Нанотранзисторы
Аннотация: структура кремний на изоляторе




    Алтухов, А. А.
    Перспективные структуры "кремний - на - диэлектрике" КМОПИС на основе эпитаксиальных слоев Si/CaF2/Si [Текст] / Алтухов А.А., Митягин А.Ю. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.113-118.-Библиогр.:14 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Технология"кремний-на-диэлектрике"(КМОПИС) -- Молекулярно-лучевой эпитаксии метод -- Гетероструктуры Si-CaF2-Si(использование) -- Тестовые структуры МДП-"кремний-на-диэлектрике"-транзистора
Доп.точки доступа:
Митягин, А.Ю.