Шипилов, В. В. Концептуальная модель и методология построения унифицированных средств контроля радиоэлектронного оборудования [Текст] / В. В. Шипилов // Автоматизация и современные технологии. - 2010. - № 7. - С. 23-27 . - нчз
Кл.слова (ненормированные): РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ СРЕДСТВА(СИСТЕМЫ РАДИОКОНТРОЛЯ) -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ(ДИАГНОСТИЧЕСКИЕ -- СЛУЖБА КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА |
Горлов, М. И. Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей [Текст] / М.И.Горлов,А.В.Строганов,А.В.Арсентьев // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - .73-77.-Библиогр.:2 назв.
Кл.слова (ненормированные): Интегральные схемы(прогнозирование долговечности) -- Интегральные схемы(контроль качества, надежность) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические |
Афонов, О. Н. (преподаватель МарГТУ). Устойчивость металлокерамических корпусов к климатическим факторам [Текст] / О. Н. Афонов // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 3. - 77-85.-Библиогр.:5 назв.
Кл.слова (ненормированные): Металлизация СБИС(новые технологии) -- Металлокерамика -- Интегральные схемы(контроль качества, надежность) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические |
Бегер, Е. Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные): Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий |
Борисевич, К. ОУ для контроля фотодиодов [Текст] / К.Борисевич // Радиомир. - 2009. - N1. - С. 24-26.
Кл.слова (ненормированные): Фотодиоды кремниевые(характеристики) -- Измерители -- Операционные усилители -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические |
Субботин, М. Устройство дистанционного контроля исправности пьезоэлектрических датчиков [Текст] / М.Субботин // Радио. - 2008. - N6. - 35-38.-Библиогр.:3 назв.
Кл.слова (ненормированные): Датчики пьезоэлектрические -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические |
Фотолюминесцентная методика оценки качества длиннопериодных CaAs/AlCaAs резонансно туннельных сверхрешеточных структур на разных технологических этапах изготовления [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 4.-С.261-276.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий |
Антипов, В. А. Отображение семантики домена контроля и диагностики на структуру XML-сообщений [Текст] / В. А. Антипов, В. П. Соколов // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - 61-67. -Библиогр.:4 назв
Кл.слова (ненормированные): Доменные имена -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Тестовое оборудование(электронных производств) -- Проектирование медицинских приборов |
Урличич, Ю. Противодействие проникновению контрафактных электронных компонентов на опыте создания системы ГЛОНАСС [Текст] / Ю.Урличич,Н.Данилин // Электронные компоненты. - 2007. - N3. - 49-54.-Бибилогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные): Электронные компоненты(обеспечение качества) -- Контрафактная продукция -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий -- ГЛОНАСС(построение,структура,функции) Аннотация: Поддельные электронные компоненты |
Мустафаев, М. Г. Системный подход к обеспечению качества изделий [Текст] / М.Г.Мустафаев // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий |
Медведев, А. Роль тестирования в производстве электроники[Текст] [Текст] / А.Медведев // Производство электроники. - 2006. - N4. - 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий |
Петрова, Э. Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст] [Текст] / Э.Петрова // Производство электроники. - 2006. - N2. - С. 53-55.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(поверхностный монтаж) -- Качество полупроводниковых изделий |
Михайлов, А. Н. К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст] [Текст] / А.Н.Михайлов // Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв. - (Электронные м электромагнитные устройства)
Кл.слова (ненормированные): Микропроцессорные системы(средства тестирования, отладка) -- Качество полупроводниковых изделий -- Неисправности вычислительных систем -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические |
Курдин, В. Разработка автоматизированной системы для настройки и тестирования радиоаппаратуры [Текст] / В.Курдин, А.Шарапов // Электронные компоненты. - 2005. - N11. - С. .37-39
Кл.слова (ненормированные): Проектирование РЭА(надежностно-ориентированное) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Автоматические системы управления(синтез) Доп.точки доступа: Шарапов, А. |