Шипилов, В. В. Концептуальная модель и методология построения унифицированных средств контроля радиоэлектронного оборудования [Текст] / В. В. Шипилов // Автоматизация и современные технологии. - 2010. - № 7. - С. 23-27 . - нчз
Кл.слова (ненормированные): РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ СРЕДСТВА(СИСТЕМЫ РАДИОКОНТРОЛЯ) -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ(ДИАГНОСТИЧЕСКИЕ -- СЛУЖБА КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА |
Козлов, С. В. Многофункциональный контроллер видеокамеры рентгеновского преобразователя [Текст] / С. В. Козлов, Д. М. Чумаков, Е. Г. Точинский // Мехатроника, автоматизация, управление. - 2009. - №9. - С. 53-57. - Библиогр.: с. 57 (4 назв.) Кл.слова (ненормированные): ВИДЕОКАМЕРЫ (ВОССТАНОВЛЕНИЕ СХЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ ШАГОВЫМ ДВИГАТЕЛЕМ) -- КОНТРОЛЛЕРЫ РАЗМЫТОЙ ЛОГИКИ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- РЕНТГЕНОТЕЛЕВИЗИОННЫЕ СИСТЕМЫ -- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИЕ -- ПЛИС -- АНАЛОГО-ЦИФРОВЫЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ -- НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ -- ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ (ДЕФЕКТОСКОПИЯ) Аннотация: создание рентгенотелевизионные системы для неразрушающего контроля качества РЭА изделий Доп.точки доступа: Чумаков, Д.М. Точинский, Е.Г. |
Масальский, Н. В. Вопросы масштабирования характеристик КМОП СБИС [Текст] / Н. В. Масальский // Успехи современной радиоэлектроники. - 2009. - №7. - С. 3-27. - Библиогр.: 50 назв.
Кл.слова (ненормированные): КМОП СБИС (ОПТИМИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ) -- СБИС -- НАНОТРАНЗИСТОРЫ -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ |
Бергер, Е. Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные): Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС |
Васильева, Т. Информационно-измерительная экспертная система проведения испытаний технических средств по требованиям безопасности [Текст] / Т.Васильевна // CHIP NEWS. - 2008. - N5. - С. 41-44
Кл.слова (ненормированные): Надежность РЭА -- Сертификация в электронике -- Контроль качества электроники |
Автоматизация сбора данных от АЦП [Текст] // СHIP NEWS. - 2007. - N9. - С. 38-41.
Кл.слова (ненормированные): Тестовое оборудование(электронных производств) -- Измерительные системы -- Контроль качества электроники Аннотация: Стенд автоматизированного контроля качества различных РЭА, тестирование. |
Борисевич, К. Помехоустойчивость КМОП-элементов [Текст] / К.Борисевич // Схемотехника. - 2007. - N5. - С. 16-18
Кл.слова (ненормированные): КМОП-схемы -- Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Помехоустойчивость(потенциальная) |
Горлов, М. Микроэлектронный датчик влажности [Текст] / М.Горлов,Д.Ануфриев,Н.Шишкина // СHIP NEWS. - 2007. - N4. - 27-29.-Бибилогр.:11назв.
Кл.слова (ненормированные): Датчики влажности -- Влагозащита -- Надежность РЭА(расчет) -- Контроль качества электроники -- Датчики(применение) Доп.точки доступа: Ануфриев, Д. Шишкина, Н. |
Борисевич, К. Устройства контроля датчиков [Текст] / К.Борисевич // Радиомир. - 2007. - N3. - С. 22-23.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества электроники -- Датчики -- Качество полупроводниковых изделий |
Горлов, М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные): Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий Доп.точки доступа: Строгонов, А.В. Смирнов, Д.Ю. |
Агаханян, Т. М. Использование аналоговых интегральных микросхем на комплиментарных транзисторах с быстродействующим каналом в спецаппаратуре[Текст] [Текст] / Т.М.Агаханян // Микроэлектроника. - 2006. - Т.3. - N3.-С.230-234.Библиогр.: 21 назв.
Кл.слова (ненормированные): Радиационная стойкость -- Военная техника(радиоэлектронная) -- Интегральные микросхемы -- Аналоговые интегральные микросхемы(определение параметров) -- Контроль качества электроники Аннотация: Разработка быстродействующих и широкополосных аналоговых интегральных микросхем предназначенных для работы в условиях радиационного воздействия |
Сушко, В. Ю. Метод выбора параметров многослойной защиты электронного устройства от мощного теплового воздействия[Текст] [Текст] / В.Ю.Сушко,В.А.Кораблев, А.В.Шарков // Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - 3.-С.64-69.-Библиогр.: 8 назв. - (Тепловые режимы и надежность приборов и систем)
Кл.слова (ненормированные): Теплоотвод(эффективность) -- Защита от перегрузки(стабилизаторов напряжения) -- Защита от статического электричества(компоненты) -- Защита от электрического разряда(микросхем) -- Контроль качества электроники Доп.точки доступа: Кораблев, В.А. Шарков, А.В. |
Добыкин, В. Д. Модель функционального поражения полупроводниковых элементов электромагнитными импульсами, в которых в качестве граничных условий используются градиенты температуры[Текст] [Текст] / В.Д.Добыкин, В.В.Харченко // Радиотехника и электроника. - 2006. - Т.5. - N2.-С.242-251.-Библиогр.: 9назв.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества электроники -- Защита от электрического разряда(микросхем) Доп.точки доступа: Харченко, В.В. |
Горлов, М. И. Геронтология кремниевых интегральных схем [Текст] / Горлов М.И., Строгонов А.В. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные): Кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности) -- Контроль качества электроники Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем Доп.точки доступа: Строгонов, А.В. |