Креницкий, А. П. Проблемы измерения диэлектрических характеристик нано- и микроразмерных сред в терагерцевом диапазоне частот 100-3000ГГц [Текст] / А.П.Креницкий // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N9. - 30-35.-Библиогр.:12 назв.
Кл.слова (ненормированные): Производство наноэлектроники -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике) -- Измерения(параметров транзисторов) -- Нанотехнологии Аннотация: Точность и быстродействие измерений в микро- и нанометровом масштабе |
Универсальный измеритель параметров МДП-транзисторов [Текст] // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 4.-С.315-320
Кл.слова (ненормированные): Измерения(параметров транзисторов) |
Ильин, А. Измерение параметров транзисторов [Текст] / Ильин А. // Радиолюбитель. - 1999. - N7. - 35.-Продолжение.Нач.в N6. - (Измерения)
Кл.слова (ненормированные): Транзисторы(измерение параметров) -- Измерения(параметров транзисторов) |