Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Арутюнов, П. А.$<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Арутюнов, П. А.
Фрактальный анализ анализанизотропных поверхностей [Текст] / Арутюнов П.А. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 6.-С.477-480.-Библиогр.:15 назв.

УДК

621.382

Кл.слова (ненормированные):
Анизотропия поверхности материалов -- Топотезия -- Атомно-силовая микроскопия

Найти похожие

Гайнутдинов, Р. В.
Проблема артефактов в атомно-силовой микроскопии [Текст] / Гайнутдинов Р.В., Арутюнов П.А. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.257-265.-Библиогр.:27 назв.

УДК

681.723

Кл.слова (ненормированные):
Артефакты в атомно-силовой микроскопии -- Атомно-силовая микроскопия(артефакты)
Доп.точки доступа:
Арутюнов, П.А.

Найти похожие

Арутюнов, П. А.
Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть II. [Текст] / Арутюнов П.А., Толстихина А.Л. // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 1.-С.13-22.-Библиогр.:53 назв.

УДК

621.38.049.77

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектроника(создание элементной базы) -- Наноэлектроника(создание элементной базы) -- Элементная база(микро- и наноэлектроники) -- Кантилеверы(новые конструкции) -- Сенсоры(новые конструкции) -- Элементы избирательно-чувствительные(сенсоры,кантилеверы) -- Нанометография(последние достижения)
Доп.точки доступа:
Толстихина, А.Л.

Найти похожие

Арутюнов, П. А.
Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть 1. [Текст] / Арутюнов П.А., Толстихина А.Л. // Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - 6.-С.405-414.-Библиогр.:90 назв.

УДК

621.38.049.77

Кл.слова (ненормированные):
Атомно-силовая микроскопия(использование метода) -- Микроэлектроника(создание элементной базы) -- Элементная база микро- и наноэлектроники(проектирование) -- Элементы избирательно-чувствительные(новые конструкции)
Доп.точки доступа:
Толстихина, А.Л.

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 02.06.2024
Число запросов	20651
Число посетителей	956
Число заказов	0