Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.382:539.23<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Рудаков, В. И.
    Низкотемпературный отжиг SIMOX-структур в неоднородном температурном поле [Текст] / В.И.Рудаков,Ю.И.Денисенко,Б.В.Мочалов // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 5.-С.367-373.-Библиогр.:13 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
SIMOX-структуры(низкотемпературный отжиг) -- Диэлектрик(формирование скрытых слоев) -- КНИ-технология
Доп.точки доступа:
Денисенко, Ю.И.
Мочалов, Б.В.


Найти похожие

2.


    Рудаков, В. И.
    Влияние градиента температуры на окисление кремния [Текст] / Рудаков В.И., Мочалов Б.В. // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 2.-С.115-121.-Библиогр.:4 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Окисление кремния термическое(модель) -- Компоненты основные(МОП-структур) -- Окисление кремния(влияние градиента температуры)
Доп.точки доступа:
Мочалов, Б.В.


Найти похожие

 
Статистика
за 08.07.2024
Число запросов 87901
Число посетителей 986
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».