Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=шероховатость электрода<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Оценка емкости плоского конденсатора с учетом шероховатости поверхности электродов [Текст] / Ю. К. Евдокимов, Л. Ю. Фадеева, Р. К. Сагдиев, Б. М. Валеев // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2019. - № 4 (44). - С. 67-74 : 1 рис. - Библиогр.: с. 71-72 (8 назв.). - Реф. на англ. яз.

Рубрики: Радиоэлектроника

   Радиоэлектроника в целом


   Вычислительная техника


   Вычислительные сети


   
Кл.слова (ненормированные):
емкость плоского конденсатора -- масштабы неоднородностей поверхности -- межэлектродное расстояние -- фрактальная размерность -- шероховатость электрода -- экспериментальные проверки
Аннотация: Рассмотрено влияние шероховатости электродов на величину емкости плоского конденсатора. Роль шероховатости существенно возрастает с уменьшением межэлектродного расстояния, соизмеримого с масштабом неоднородностей поверхности.
Доп.точки доступа:
Евдокимов, Юрий Кириллович (доктор технических наук; профессор)
Фадеева, Людмила Юрьевна (кандидат технических наук)
Сагдиев, Рафаэль Касимович (кандидат технических наук)
Валеев, Булат Марсович (аспирант)


Найти похожие

 
Статистика
за 02.06.2024
Число запросов 49924
Число посетителей 1310
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».