Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Книги (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=зондовая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


   
    Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств [Текст] / И. И. Попов [и др.] // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96 : 6 рис. - Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз.

Рубрики: Радиоэлектроника

   Электроника в целом


   Физика


   Экспериментальные методы и аппаратура оптики


   
Кл.слова (ненормированные):
заданные параметры -- труды ПГТУ -- зондовая микроскопия -- магнетронное распыление -- методы моделирования -- наноразмерные пленочные структуры -- наноэлектронные материалы -- оптические свойства -- полупроводниковые кристаллиты -- полупроводниковые структуры -- рентгенодифракционный анализ -- текстурированность пленок -- тонкие пленки -- фотонное эхо -- функциональные покрытия
Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами.
Доп.точки доступа:
Попов, Иван Иванович (доктор физико-математических наук; профессор)
Вашурин, Никита Сергеевич (аспирант)
Мороз, Андрей Викторович (аспирант)
Степанов, Сергей Александрович (аспирант)
Сушенцов, Николай Иванович (кандидат технических наук; доцент)
Роженцов, Алексей Аркадьевич (доктор технических наук; профессор)
Евдокимов, Алексей Олегович (кандидат технических наук; доцент)


Найти похожие

2.


    Бесогонов, В. В.
    Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений [Текст] / В. В. Бесогонов, И. Н. Скворцова // Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
УДК

Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРА -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПЫ ТУННЕЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ (СВОЙСТВА МИКРОКОНТАКТОВ)
Доп.точки доступа:
Скворцова, И.Н.


Найти похожие

3.


    Суворов, А. Л.
    Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов [Текст] / А.Л.Суворов // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2003. - N8. - 28-34.-Библиогр.:54 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Радиационные дефекты на поверхности -- Автономная микроскопия -- Зондовая микроскопия -- СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД

Найти похожие

 
Статистика
за 02.06.2024
Число запросов 24655
Число посетителей 1009
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».