Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Технологические процессы(микроэлектроника)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Нагаев, А. А. (Преподаватель МарГТУ).
    Влияние диэлектрической маски на корректировку величины сопротивления толстопленочных резисторов методом электроискровой подгонки [Текст] / А. А. Нагаев, В. Н. Леухин // Вестник МарГТУ. - 2008. - N2. - 63-67.-Библиогр.:6 назв.
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Резисторы постоянные(маркировка) -- Технологические процессы(микроэлектроника)

Найти похожие
2.


    Орликовский, А. А.
    Диагностика in situ плазменных технологических процессов микроэлектроники : современное состояние и ближайшие перспективы. Часть III [Текст] / Орликовский А.А., Руденко К.В. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 5.-С.323-344.-Библиогр.:44 назв.
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектроника(технологические процессы,диагностика in situ) -- Диагностика in situ(микроэлектроника) -- Технологические процессы(микроэлектроника) -- Зондирование поверхности структур(микроэлектроника) -- Микроструктуры -- Интерферометрия -- Эллипсометрия(одноволновая спектральная) -- Термодиагностика пластины
Доп.точки доступа:
Руденко, К.В.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 02.06.2024
Число запросов 42661
Число посетителей 1164
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».