Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=СБИС (ПОВЫШЕНИЕ ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Исследование методов калибровки процессных ОРС моделей VT-5 с переменным порогом чувствительности [Текст] // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 6. - С. 468-480 : ил. - Библиогр.: с. 480(14 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
СБИС (ПОВЫШЕНИЕ ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ) -- ЛИТОГРАФИЯ
Аннотация: Рассмотрен один из наиболее распространенных подходов к моделированию сложных литографических систем.

Найти похожие

2.


    Комаров, А.
    О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС [Текст] / А.Комаров // CHIP NEWS. - 2006. - N6. - С. 49-52
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества в промышленных предприятиях -- Качество полупроводниковых изделий -- Высшее образование российское (в области электроники) -- СБИС (повышение технологичности)

Найти похожие

 
Статистика
за 02.06.2024
Число запросов 18582
Число посетителей 925
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».