Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=Интегральные схемы(прогнозирование долговечности)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Горлов, М. И.
    Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей [Текст] / М.И.Горлов,А.В.Строганов,А.В.Арсентьев // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК
621.3.049.77

Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы(прогнозирование долговечности) -- Интегральные схемы(контроль качества, надежность) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 10.07.2024
Число запросов 227387
Число посетителей 806
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».