Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>) |
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 18 |
1. 
|
Ляпина, М. А. (преподаватель МарГТУ).
Статистические методы оценки качества технологических процессов изготовления металлокерамических корпусов и плат [Текст] / М. А. Ляпина // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2009. - № 2. - С. 68-76
Кл.слова (ненормированные):
МЕНЕДЖМЕНТ КАЧЕСТВА (РАЗРАБОТКА СИСТЕМЫ) -- МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ -- МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ КОРПУСА (ДЕФЕКТЫ) -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПАЙКИ -- КАЧЕСТВО ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ -- КОРПУСА МИКРОСХЕМ
Найти похожие
|
2.
|
Бегер, Е.
Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
3.
|
Бергер, Е.
Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС
Найти похожие
|
4.
|
Квапель, Д.
Тотальный контроль качества в руках контрактного производителя [Текст] / Д.Квапель // CHIP NEWS. - 2008. - N7. - С. 13-15
Кл.слова (ненормированные):
Контроль изделий в электронной технике -- Качество полупроводниковых изделий -- Тестовое оборудование (электронных производств)
Найти похожие
|
5.
|
Фотолюминесцентная методика оценки качества длиннопериодных CaAs/AlCaAs резонансно туннельных сверхрешеточных структур на разных технологических этапах изготовления [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 4.-С.261-276.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
6.
|
Клячкин, В. Н.
Контроль технологического процесса при нарушении нормальности распределения показателей [Текст] / В.Н.Клячкин,Е.И.Константинова // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N7. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества в промышленных предприятиях
Найти похожие
|
7.
|
Борисевич, К.
Помехоустойчивость КМОП-элементов [Текст] / К.Борисевич // Схемотехника. - 2007. - N5. - С. 16-18
Кл.слова (ненормированные):
КМОП-схемы -- Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Помехоустойчивость(потенциальная)
Найти похожие
|
8.
|
Урличич, Ю.
Противодействие проникновению контрафактных электронных компонентов на опыте создания системы ГЛОНАСС [Текст] / Ю.Урличич,Н.Данилин // Электронные компоненты. - 2007. - N3. - 49-54.-Бибилогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Электронные компоненты(обеспечение качества) -- Контрафактная продукция -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий -- ГЛОНАСС(построение,структура,функции)
Аннотация: Поддельные электронные компоненты
Найти похожие
|
9.
|
Борисевич, К.
Устройства контроля датчиков [Текст] / К.Борисевич // Радиомир. - 2007. - N3. - С. 22-23.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества электроники -- Датчики -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
10.
|
Мустафаев, М. Г.
Системный подход к обеспечению качества изделий [Текст] / М.Г.Мустафаев // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
11.
|
Горлов, М. И.
Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные):
Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.
Смирнов, Д.Ю.
Найти похожие
|
12.
|
Комаров, А.
О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС [Текст] / А.Комаров // CHIP NEWS. - 2006. - N6. - С. 49-52
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества в промышленных предприятиях -- Качество полупроводниковых изделий -- Высшее образование российское (в области электроники) -- СБИС (повышение технологичности)
Найти похожие
|
13.
|
Семенова, С.
Качество воды и современные технологические процессы производства печатных плат[Текст] [Текст] / С.Семенова // Производство электроники. - 2006. - N4. - С. 55-57
Кл.слова (ненормированные):
Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий -- Влагозащита
Найти похожие
|
14.
|
Медведев, А.
Роль тестирования в производстве электроники[Текст] [Текст] / А.Медведев // Производство электроники. - 2006. - N4. - 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
15.
|
Петрова, Э.
Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст] [Текст] / Э.Петрова // Производство электроники. - 2006. - N2. - С. 53-55.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(поверхностный монтаж) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
16.
|
Михайлов, А. Н.
К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст] [Текст] / А.Н.Михайлов // Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв. - (Электронные м электромагнитные устройства)
Кл.слова (ненормированные):
Микропроцессорные системы(средства тестирования, отладка) -- Качество полупроводниковых изделий -- Неисправности вычислительных систем -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
17.
|
Сускин, В. В.
Контроль функционирования электронных схем в технологии поверхностного монтажа[Текст] [Текст] / В.В.Сускин // Автоматизация и современные технологии. - 2006. - N3. - С. 42-46. - Библиогр.: с. 46 (2 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества пайки -- Качество полупроводниковых изделий -- Поверхностный монтаж печатных плат
Найти похожие
|
18.
|
Строгонов, А.
Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования [Текст] / А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N6. - С. 44-49. - (Надежность)
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Интегральные схемы (прогнозирование долговечности) -- Прогнозирование долговечности ИС
Найти похожие
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный