Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Горлов, М.$<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-14 
1.


    Горлов, М. И.
    Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей [Текст] / М.И.Горлов,А.В.Строганов,А.В.Арсентьев // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК
621.3.049.77

Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы(прогнозирование долговечности) -- Интегральные схемы(контроль качества, надежность) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические

Найти похожие
2.


    Горлов, М.
    Микроэлектронный датчик влажности [Текст] / М.Горлов,Д.Ануфриев,Н.Шишкина // СHIP NEWS. - 2007. - N4. - 27-29.-Бибилогр.:11назв.
УДК
681.5

Кл.слова (ненормированные):
Датчики влажности -- Влагозащита -- Надежность РЭА(расчет) -- Контроль качества электроники -- Датчики(применение)
Доп.точки доступа:
Ануфриев, Д.
Шишкина, Н.


Найти похожие
3.


    Горлов, М. И.
    Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК
621.3.049.77.019.3

Кл.слова (ненормированные):
Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.
Смирнов, Д.Ю.


Найти похожие
4.


    Горлов, М. И.
    Входной контроль полупроводниковых изделий [Текст] / М.И.Горлов. А.В.Андреев // Микроэлектроника. - 2003. - Т.3. - 5.-С.391-400
УДК
621.382:6211.317.7

Кл.слова (ненормированные):
Контроль изделий в электронной технике -- Полупроводниковые изделия -- Полупроводники входной контроль

Найти похожие
5.


    Горлов, М. И.
    Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий [Текст] / М.И.Горлов,Д.А.Литвиненко // Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - 5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв. - (Технологические процессы)
УДК
621.38.002.2

Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Отжиг дефектов полупроводниковых приборов -- Дефекты радиационные и электростатические(п/п приборов)
Доп.точки доступа:
Литвиненко, Д.А.


Найти похожие
6.


    Горлов, М.
    Входной контроль полупроводниковых изделий [Текст] / М.Горлов,А.Строгонов,А.Андреев // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N3. - С. 40-46. - (Надежность). - Библиогр.: с. 46 (10 назв.)
УДК
621.38

Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковые изделия (входной контроль) -- Контроль входной (полупроводниковых изделий)
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.
Андреев, А.


Найти похожие
7.


    Горлов, М.
    Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов [Текст] / М.Горлов,А.Адамян,А.Каехтин // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 48-51. - (Надежность)
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковые изделия (контроль качества, надежность) -- Надежность полупроводниковых изделий (оценка) -- Контроль качества полупроводниковых изделий (диагностические методы) -- Диоды (контроль качества, надежность) -- Транзисторы (контроль качества, надежность) -- Интегральные схемы (контроль качества, надежность)
Доп.точки доступа:
Адамян, А.
Каехтин, А.


Найти похожие
8.


   
    Тренировка изделий электронной техники и электронных блоков [Текст] / М. Горлов и [др.] // CHIP NEWS. - 2001. - N10. - .40-45.-Библиогр.:11 назв. - (Надежность)
УДК
621.38

Кл.слова (ненормированные):
Электронная техника(испытания, тренировка) -- Испытания электронной техники(отбраковочные) -- Электронные блоки(испытания, тренировка)
Доп.точки доступа:
Горлов, М.
Адамян, А.
Ануфриев, Л.
Емельянов, В.
Строгонов, А.


Найти похожие
9.


    Горлов, М. И.
    Геронтология кремниевых интегральных схем [Текст] / Горлов М.И., Строгонов А.В. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
УДК
621.3.049.77.019.3

Кл.слова (ненормированные):
Кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности) -- Контроль качества электроники
Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.


Найти похожие
10.


    Горлов, М.
    Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС [Текст] / М.Горлов,Л.Ануфриев,А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2001. - N5. - С. 22-26
УДК
621.38.049.77

Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы (надежность, испытания)
Доп.точки доступа:
Ануфриев, Л.
Строгонов, А.


Найти похожие
 1-10    11-14 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 53211
Число посетителей 568
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».