Поисковый запрос: (<.>K=Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Шипилов, В. В.
Концептуальная модель и методология построения унифицированных средств контроля радиоэлектронного оборудования [Текст] / В. В. Шипилов // Автоматизация и современные технологии. - 2010. - № 7. - С. 23-27
. - нчз
Кл.слова (ненормированные):
РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ СРЕДСТВА(СИСТЕМЫ РАДИОКОНТРОЛЯ) -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ(ДИАГНОСТИЧЕСКИЕ -- СЛУЖБА КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА
Найти похожие
|
2.
|
Горлов, М. И.
Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей [Текст] / М.И.Горлов,А.В.Строганов,А.В.Арсентьев // Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - .73-77.-Библиогр.:2 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы(прогнозирование долговечности) -- Интегральные схемы(контроль качества, надежность) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
3.
|
Афонов, О. Н. (преподаватель МарГТУ).
Устойчивость металлокерамических корпусов к климатическим факторам [Текст] / О. Н. Афонов // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 3. - 77-85.-Библиогр.:5 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Металлизация СБИС(новые технологии) -- Металлокерамика -- Интегральные схемы(контроль качества, надежность) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
4.
|
Бегер, Е.
Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
5.
|
Борисевич, К.
ОУ для контроля фотодиодов [Текст] / К.Борисевич // Радиомир. - 2009. - N1. - С. 24-26.
Кл.слова (ненормированные):
Фотодиоды кремниевые(характеристики) -- Измерители -- Операционные усилители -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
6.
|
Субботин, М.
Устройство дистанционного контроля исправности пьезоэлектрических датчиков [Текст] / М.Субботин // Радио. - 2008. - N6. - 35-38.-Библиогр.:3 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Датчики пьезоэлектрические -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
7.
|
Фотолюминесцентная методика оценки качества длиннопериодных CaAs/AlCaAs резонансно туннельных сверхрешеточных структур на разных технологических этапах изготовления [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 4.-С.261-276.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
8.
|
Антипов, В. А.
Отображение семантики домена контроля и диагностики на структуру XML-сообщений [Текст] / В. А. Антипов, В. П. Соколов // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - 61-67. -Библиогр.:4 назв
Кл.слова (ненормированные):
Доменные имена -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Тестовое оборудование(электронных производств) -- Проектирование медицинских приборов
Найти похожие
|
9.
|
Урличич, Ю.
Противодействие проникновению контрафактных электронных компонентов на опыте создания системы ГЛОНАСС [Текст] / Ю.Урличич,Н.Данилин // Электронные компоненты. - 2007. - N3. - 49-54.-Бибилогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Электронные компоненты(обеспечение качества) -- Контрафактная продукция -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий -- ГЛОНАСС(построение,структура,функции)
Аннотация: Поддельные электронные компоненты
Найти похожие
|
10.
|
Мустафаев, М. Г.
Системный подход к обеспечению качества изделий [Текст] / М.Г.Мустафаев // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный