Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Старение электронных изделий(закономерности)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Горлов, М. И.
    Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.
Смирнов, Д.Ю.


Найти похожие

2.


    Намичейшвили, О. М.
    Нестандартные модели для предсказания надежности электронных изделий [Текст] / Намичейшвили О.М., Табатадзе Т.Н. // Радиотехника. - 1999. - N9. - 78-84.-Библиогр.:20 назв. - (Информационные технологии, радиотехнические схемы и элементная база)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Электронные изделия(предсказание надежности) -- Надежность электронных изделий(предсказание) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Электронные изделия(закономерности старения)
Доп.точки доступа:
Табатадзе, Т.Н.


Найти похожие

 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 16629
Число посетителей 492
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».