Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=Электронно-индуцированного вотенциала метод<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Сравнительный анализ методов растровой электронной микроскопии полупроводников : электронно-индуцированного потенциала, одноконтактного наведенного тока, термоакустического детектирования [Текст] / Э. И. Рау и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 4.-С.243-256.-Библиогр.:28 назв.
УДК
621.385.833

Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия полупроводников(методы) -- Полупроводники(методы электронной микроскопии) -- Электронно-индуцированного вотенциала метод -- Одноконтактного наведенного тока метод -- Термоакустического детектирования метод
Доп.точки доступа:
Рау, Э.И.
Гостев, А.В.
Чжу, Шичу
Пханг, Д.
Чан, Д.
Тхонг, Д.
Вонг, В.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 141133
Число посетителей 754
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».