Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Тонкие пленки(исследование проводимости)<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


   
    Электрические и оптические свойства полупроводниковых пленок на основе SnO2 и SiO2[Текст] [Текст] // Электротехника. - 2004. - №10. - С. .10-14. - (Силовая электроника)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(исследование проводимости)

Найти похожие

2.


    Широтов, В. В.
    Частотно-селективный Джозефсоновский детектор импульсного субтерагерцового излучения[Текст] [Текст] / В.В.Широтов, Ю.Я.Дивин // Радиотехника и электроника. - 2004. - Т.4. - №9.-С.1135-1139. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Детектор сигналов цифровой(быстродействующий) -- Тонкие пленки(исследование проводимости) -- Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)
Доп.точки доступа:
Дивин, Ю.Я.


Найти похожие

3.


   
    Влияние баллистических электронов проводимости на вольт-амперные характеристики крестообразных микроструктур из тонких пленок висмута [Текст] / А. И. Ильин и др. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 1.-С.22-26.-Библиогр.:9 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Тонкие пленки(исследование проводимости) -- Проводимость тонких пленок(исследование) -- Баллистические электроны проводимости -- Вольт-амперные характеристики микроструктур -- Крестообразные микроструктуры(характеристики)
Доп.точки доступа:
Ильин, А.И.
Апаршина, Л.И.
Дубонос, С.В.
Толкунов, В.Н.


Найти похожие

 
Статистика
за 28.06.2024
Число запросов 42074
Число посетителей 512
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».