Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)

Найти похожие
2.


    Стрижков, С. А.
    Статистические методы управления и оценки качества технологических процессов. Особенности применения для обеспечения качества интегральных микросхем [Текст] / С.А.Стрижков // Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - 1.-С.24-30.-Библиогр.:4 назв. - (Технологические процессы)
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля) -- Микроэлектроника(методы контроля качества технических процессов) -- Интегральные микросхемы(система управления качеством производства) -- Управление качеством производства интегральных микросхем

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 27045
Число посетителей 502
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».