Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Методы и аппаратура контроля параметров и испытаний современных мощных силовых полупроводниковых приборов [Текст] // Электротехника. - 2004. - №4. - С. 3-11. - (Силовая электроника)

УДК

621.382.3

Кл.слова (ненормированные):
Силовая электроника -- Электроника силовая(проектирование) -- Полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)

Найти похожие

Разработка оптических методов и аппаратуры для контроля технологии и параметров полупроводниковых структур нано-и микроэлектроники [Текст] / В. И. Ковалев и [др.] // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1404-1408.-Библиогр.:13 назв. - (Новые радиоэлектронные системы и элементы)

УДК

621.382

Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров) -- Оптика поляризационная(контроль полупроводниковых структур) -- Рефлектометры(дифференциального отражения) -- Эллипсометры(дифференциального отражения) -- Спектрометры(дифференциального отражения)
Доп.точки доступа:
Ковалев, В.И.
Рукавишников, А.И.
Перов, П.И.
Россуканый, Н.М.
Авдева, Л.А.

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 18.06.2024
Число запросов	15812
Число посетителей	978
Число заказов	0