Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)

Найти похожие
2.


    Горлов, М. И.
    Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий [Текст] / М.И.Горлов,Д.А.Литвиненко // Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - 5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв. - (Технологические процессы)
УДК
621.38.002.2

Кл.слова (ненормированные):
Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Отжиг дефектов полупроводниковых приборов -- Дефекты радиационные и электростатические(п/п приборов)
Доп.точки доступа:
Литвиненко, Д.А.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 38081
Число посетителей 517
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».