Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=Малые выборки (оценка надежности электроники)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Гусев, А.
    Малые выборки при оценке работоспособности и надежности электронных компонентов [Текст] / А.Гусев,Э.Лидский,О.Мироненко // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 52-55. - (Надежность)
УДК
621.382

Кл.слова (ненормированные):
Электронные компоненты (оценка работоспособности, надежности) -- Малые выборки (оценка надежности электроники)
Доп.точки доступа:
Лидский, Э.
Мироненко, О.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 103751
Число посетителей 1112
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».