Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Дефектообразование в подложках БИС<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.


    Бегер, Е.
    Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий

Найти похожие

2.


    Бергер, Е.
    Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС

Найти похожие

3.


    Передреева, М. А. (Преподаватель МарГТУ).
    Проблема согласования усадочных свойств металлизационного слоя и подложки при производстве металлокерамических плат [Текст] / М. А. Передреева, В. В. Егошин // Вестник МарГТУ. - 2008. - N2. - 68-75.-Библиогр.:6 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Платы(проектирование) -- Металл-изолятор-металл

Найти похожие

4.


   
    Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)

Найти похожие

5.


    Скворцов, А. М.
    Конструирование подложек БИС [Текст] / А.М.Скворцов // Известия вузов. Приборостроение. - 2002. - Т.4. - 4.-С.57-63. - (Технология приборостроения)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Подложки БИС(конструирование) -- БИС -- Конструирование подложек БИС -- Дефектообразование в подложках БИС

Найти похожие

 
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 37639
Число посетителей 516
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».