Поисковый запрос: (<.>U=621.385.833<.>) |
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6 |
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Бобринецкий И.И.
Заглавие : Методы параллельной интеграции углеродных нанотрубок при формировании функциональных устройств микроэлектроники и сенсорной техники
Место публикации : Микроэлектроника. - 2009. - Т. 38, № 5. - С. 353-360
Примечания : Библиогр.: 24 назв.
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сенсоры (новые конструкции)--тонкопленочное покрытие--нанотрубки углеродные
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Ильин А.И., Апаршина Л.И., Дубонос С.В., Толкунов В.Н.
Заглавие : Влияние баллистических электронов проводимости на вольт-амперные характеристики крестообразных микроструктур из тонких пленок висмута
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 1.-С.22-26.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкие пленки(исследование проводимости)--проводимость тонких пленок(исследование)--баллистические электроны проводимости--вольт-амперные характеристики микроструктур--крестообразные микроструктуры(характеристики)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Волков А.Б., Неволин В.К.
Заглавие : Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства)--зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Жуков В.А.
Заглавие : Метод ионооптической имплантации одиночных ионов фосфора 31Р в качестве кубитов твердотельного квантового компьютера
Место публикации : Микроэлектроника. - 2003. - Т.3. - С. 6.-С.430-439. - (Технологические процесс)
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): компьютеры(повышение производительности)--квантовый компьютер(создание элементов)
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Неволин В.К.
Заглавие : Двухэлектродные элементы наноэлектроники на основе квантовых проводов
Место публикации : Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - С. 4.-С.293-300.-Библиогр.:16 назв.
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектроника(двухэлектродные элементы)--наноэлектроника(элементы на основе квантовых проводов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Рау Э.И., Гостев А.В., Чжу, Шичу, Пханг Д., Чан Д., Тхонг Д., Вонг В.
Заглавие : Сравнительный анализ методов растровой электронной микроскопии полупроводников : электронно-индуцированного потенциала, одноконтактного наведенного тока, термоакустического детектирования
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 4.-С.243-256.-Библиогр.:28 назв.
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия полупроводников(методы)--полупроводники(методы электронной микроскопии)--электронно-индуцированного вотенциала метод--одноконтактного наведенного тока метод--термоакустического детектирования метод
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный