Поисковый запрос: (<.>U=621.382<.>) |
Общее количество найденных документов : 239
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Лучинин В.В., Панов М.Ф.
Заглавие : Эллипсометрический контроль параметров тонкослойных структур при создании приборов на основе системы SiC-AIN
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 2.-С.129-134.-Библиогр.:6 назв. - (Мониторинг технологических процессов)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкослойные структуры(контроль параметров)--эллипсометрический контроль параметров(тонкослойных структур)--микроприборы(создание, контроль параметров)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Полупроводниковые ограничители напряжения
Место публикации : Радио. - 2002. - N8. - С. 50-52.-Библиогр.:4 назв. - (Справочный листок)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ограничители напряжения полупроводниковые
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Сергеев В.А.
Заглавие : Влияние проникающих излучений на устойчивость токораспределения в мощных ВЧ-и СВЧ-транзисторах
Место публикации : Изв.вузов.Радиоэлектроника. - 2002. - Т.4. - С. 3.-С.55-59.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): проникающие излучения--токораспределение(устойчивость)--транзисторы(вч и свч)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Дорошевич К.К., Попов В.Н., Стрижков С.А.
Заглавие : Методика статистического контроля технологических процессов изготовления интегральных микросхем для партий малого объема при прерывистом производстве
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 2.-С.152-160.-Библиогр.:3 назв. - (Контроль технологических процессов)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные микросхемы(изготовление,контроль техпроцессов)--технологические процессы изготовления микросхем(контроль)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Гусев А., Лидский Э., Мироненко О.
Заглавие : Малые выборки при оценке работоспособности и надежности электронных компонентов
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 52-55. - (Надежность)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные компоненты (оценка работоспособности, надежности)--малые выборки (оценка надежности электроники)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Горлов М., Адамян А., Каехтин А.
Заглавие : Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 48-51. - (Надежность)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия (контроль качества, надежность)--надежность полупроводниковых изделий (оценка)--контроль качества полупроводниковых изделий (диагностические методы)--диоды (контроль качества, надежность)--транзисторы (контроль качества, надежность)--интегральные схемы (контроль качества, надежность)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бутов А.
Заглавие : Применение некондиционных симисторов
Место публикации : Радиомир. - 2002. - N 5. - С. 11-13. - (Бытовая радиоэлектроника)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): симисторы некондиционные(применение)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бубенников А.Н., Зыков А.В.
Заглавие : Моделирование функционально-интегрированных комплиментарных биполярно-полевых структур с наноразмерами
Место публикации : Известия вузов. Радиоэлектроника. - 2002. - Т.4. - С. 2.-С.62-68.-Библиогр.:6 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биполярно-полевые структуры комплиментарные(с наноразмерами)--цифровые сбис(построение)--кмоп-технологии--убис биполярнве(построение)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Виноградов Ю.
Заглавие : Экономичный охранный сенсор
Место публикации : Радио. - 2003. - N3. - С. 34-35. - (Электроника в быту)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сенсор охранный(энергоэкономичный)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Котенев В.А.
Заглавие : Цифровая 3D-микрорефлектометрия в контроле топографии и качества тонких пленок
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 6.-С.466-478. - (Контроль качества)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкие пленки(контроль качества)--видеомикрозонд оптический компьютерный(использование)--цифровая 3d-микрорефлектометрия--контроль микротопографии тонких пленок
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный