Поисковый запрос: (<.>S=Электроника в целом<.>) |
Общее количество найденных документов : 41
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Мороз А. В.
Заглавие : Система контроля кристаллического строения пленок нитрида алюминия в процессе их получения
Разночтения заглавия :: Control system of the crystal structure of aluminum nitride films in the process of their production
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2013. - № 2 (18). - С. 88-97: 5 рис., 2 табл. - (Электроника)
Примечания : Библиогр.: с. 95-96 (11 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акустоэлектронные исследования--акустоэлектронные потери--кристаллиты--кристаллическое строение--магнетронное распыление--микротвердость пленок--нитриды алюминия--поверхностные акустические волны--системы контроля--степени кристалличности--эмпирические соотношения
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Скулкин Н. М., Михеева, Елена Викторовна
Заглавие : Стабилизация металлокерамических спаев на этапе металлизации пластичных заготовок коммутационных плат
Разночтения заглавия :: Stabilization of metal-ceramic seals at the stage of the metallization of plastic blanks of switching boards
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2013. - № 2 (18). - С. 82-87: 2 рис. - (Электроника)
Примечания : Библиогр.: с. 86 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Технология металлов
Микрометаллургия
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): коммутационные платы--кристаллы микросхем--металлизация заготовок--металлокерамические спаи--пайка--пластичные подложки--скалывание--спекание--термические воздействия--технологическая обработка--ударные воздействия--шерохование
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Захаров, Юрий Владимирович (кандидат технических наук; профессор), Моисеев, Николай Геннадьевич
Заглавие : Ускоренная оценка технического состояния электронных средств
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Accelerated estimation of the technical state of electronic means
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 4 (23). - С. 75-81
Примечания : Библиогр.: с. 79 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Техника
Технический контроль производства
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество изделий--математические модели--оценка аппаратуры--планирование экспериментов--показатели качества--регрессионный анализ--техническая надежность--техническое состояние--ускоренные испытания--форсированные режимы--эксплуатационные факторы--электронно-лучевые приборы--электронные средства--пгту в печати
Аннотация: Рассмотрены вопросы построения математических моделей для ускоренной оценки и прогнозирования технического состояния электронных средств. С целью сокращения времени испытаний изделий предлагаются форсированные режимы эксплуатационных факторов. Для моделирования используются специальные планы активного эксперимента. Применение данной методики дает возможность сократить время испытания изделия и прогнозировать изменение его показателей качества.
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор)
Заглавие : Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Formation of the conducting phase concentration profile in the process of thick-film resistive element heat treatment
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 5 (24). - С. 72-76: 6 рис., 1 табл.
Примечания : Библиогр.: с. 76 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оже-спектроскопия--вжигание--диоксиды рутения--концентрационные профили--оптическая электронная микроскопия--процессы термообработки--растровая электронная микроскопия--резистивные материалы--рентгеновский микроанализ--сопротивление растекания контактов--термоактивационная проводимость--токопроводящие фазы--толстопленочные резистивные элементы--точечные контакты--экспериментальные исследования--электропроводность--пгту в печати
Аннотация: Приводятся результаты исследований распределения содержания токопроводящей фазы, а также распределения электропроводности в объеме резистивного элемента в результате термической обработки.
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Ермолаев Е. В., Скулкин, Николай Михайлович
Заглавие : Стабилизация термомеханической прочности металлокерамических плат и корпусов микросхем в процессе циклической высокотемпературной обработки
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Stabilization of thermomechanical durability of metal-ceramic boards and microcircuit packages in the process of cyclic high-temperature processing
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 2 (21). - С. 75-83: 7 рис.
Примечания : Библиогр.: с. 81-82 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефекты--диэлектрики--капиллярные трещины--межслойные переходы--металлокерамические платы--микросхемы--несогласованное сжатие--стеклофаза--температурная обработка--термомеханическая прочность--циклическая высокотемпературная обработка
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Попов, Иван Иванович, Вашурин, Никита Сергеевич, Мороз, Андрей Викторович, Степанов, Сергей Александрович, Сушенцов, Николай Иванович, Роженцов, Алексей Аркадьевич, Евдокимов, Алексей Олегович
Заглавие : Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: New approaches to getting nanoelectronics materials by means of magnetron sputtering using control methods of their structure and optical properties
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96: 6 рис.
Примечания : Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Экспериментальные методы и аппаратура оптики
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): заданные параметры--труды пгту--зондовая микроскопия--магнетронное распыление--методы моделирования--наноразмерные пленочные структуры--наноэлектронные материалы--оптические свойства--полупроводниковые кристаллиты--полупроводниковые структуры--рентгенодифракционный анализ--текстурированность пленок--тонкие пленки--фотонное эхо--функциональные покрытия
Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами.
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Козлов, Петр Иванович (заместитель директора), Скулкин, Николай Михайлович, Михеева, Елена Викторовна
Заглавие : Фактор структурной нестабильности при разработке вероятностно-физической модели дефектов металлокерамических плат
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Structural instability factor in design of a probabilistic physical model of metal-ceramic board defects
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2015. - № 2 (26). - С. 75-81: 2 рис., 1 табл.
Примечания : Библиогр.: с. 79 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вероятностно-физические модели--вязкость стеклофазы--дефекты--кристаллизация--металлокерамические платы--надежность изделий--производственные факторы--разработка изделий--статистические характеристики--тонкая керамика--факторы структурной нестабильности--экспериментальные исследования
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор)
Заглавие : Модель электропроводности толстопленочных резисторов
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Model of thick-film resistor electroconductivity
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2015. - № 2 (26). - С. 67-74: 6 рис., 2 табл.
Примечания : Библиогр.: с. 72-73 (8 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Электрический ток
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): жидкофазное спекание--металлические составляющие проводимости--модели электропроводности--резистивные слои--термоактивные составляющие проводимости--терморезистивные характеристики--токопроводящие фазы--толстопленочные резисторы--туннельно-барьерные механизмы--удельное сопротивление--экспериментальные исследования--электроискровая подгонка
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Захаров, Юрий Владимирович (кандидат технических наук; профессор), Моисеев, Николай Геннадьевич
Заглавие : Комплексная оценка качества изделий электронной техники на основе метода статистических решений
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Comprehensive quality assessment of electronics products based on statistical decision method
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2015. - № 1 (25). - С. 50-54
Примечания : Библиогр.: с. 53 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Вычислительная техника
Распознавание и преобразование образов
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): харрингтона функция желательности--единичные показатели качества--качество изделий--ковариационные матрицы--комплексная оценка качества--комплексные показатели качества--корреляционная зависимость--методы статистических решений--средневзвешенные геометрические показатели--теории распознавания образов--функция желательности харрингтона--электронная техника--пгту в печати
Аннотация: Рассматриваются вопросы комплексной оценки качества изделий электронной техники при отсутствии и наличии корреляционных связей между единичными показателями качества. В случае корреляционной зависимости единичных показателей качества изделия для решения задачи используется математический аппарат теории распознавания образов - метод статистических решений. Предложен алгоритм комплексной оценки качества изделий электронной техники на основе метода статистических решений.
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор)
Заглавие : Характеристики локальной области резистивного слоя под действием искрового разряда
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Characteristics of the local area of the layer under the action of the spark discharge
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2016. - № 3. - С. 66-73: 4 рис., 3 табл.
Примечания : Библиогр.: с. 71-72 (8 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Физика полупроводников и диэлектриков
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диоксид рутения--единичные разряды--жидкофазное спекание--искровые разряды--локальные области--металлический рутений--модели электроискровой обработки--плавление материалов--разрядное напряжение--резистивные пленки--резистивные слои--токопроводящие фазы--толстопленочные резисторы--удельная электропроводность--удельное сопротивление--экспериментальные исследования--электроискровая подгонка--электрофизические свойства--энергия разрядов
Аннотация: Приводятся результаты экспериментальных исследований и расчетов изменений электрофизических свойств толстопленочных резисторов до и после электроискровой подгонки. Рассмотрена зона воздействия искрового разряда на резистивную пленку. Предложена тепловая модель действия искрового разряда на толстопленочный резистор, учитывающая энергию разряда.
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный