Поисковый запрос: (<.>S=Электроника в целом<.>) |
Общее количество найденных документов : 41
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Мороз, А. В.
Система контроля кристаллического строения пленок нитрида алюминия в процессе их получения [Текст] / А. В. Мороз // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2013. - № 2 (18). - С. 88-97 : 5 рис., 2 табл. - (Электроника). - Библиогр.: с. 95-96 (11 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
акустоэлектронные исследования -- акустоэлектронные потери -- кристаллиты -- кристаллическое строение -- магнетронное распыление -- микротвердость пленок -- нитриды алюминия -- поверхностные акустические волны -- системы контроля -- степени кристалличности -- эмпирические соотношения
Найти похожие
|
2.
|
Скулкин, Н. М.
Стабилизация металлокерамических спаев на этапе металлизации пластичных заготовок коммутационных плат [Текст] / Н. М. Скулкин, Е. В. Михеева // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2013. - № 2 (18). - С. 82-87 : 2 рис. - (Электроника). - Библиогр.: с. 86 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Технология металлов
Микрометаллургия
Кл.слова (ненормированные):
коммутационные платы -- кристаллы микросхем -- металлизация заготовок -- металлокерамические спаи -- пайка -- пластичные подложки -- скалывание -- спекание -- термические воздействия -- технологическая обработка -- ударные воздействия -- шерохование
Доп.точки доступа:
Михеева, Елена Викторовна (кандидат технических наук; доцент)
Найти похожие
|
3.
|
Захаров, Юрий Владимирович (кандидат технических наук; профессор).
Ускоренная оценка технического состояния электронных средств [Текст] / Ю. В. Захаров, Н. Г. Моисеев // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 4 (23). - С. 75-81. - Библиогр.: с. 79 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Техника
Технический контроль производства
Кл.слова (ненормированные):
качество изделий -- математические модели -- оценка аппаратуры -- планирование экспериментов -- показатели качества -- регрессионный анализ -- техническая надежность -- техническое состояние -- ускоренные испытания -- форсированные режимы -- эксплуатационные факторы -- электронно-лучевые приборы -- электронные средства -- пгту в печати
Аннотация: Рассмотрены вопросы построения математических моделей для ускоренной оценки и прогнозирования технического состояния электронных средств. С целью сокращения времени испытаний изделий предлагаются форсированные режимы эксплуатационных факторов. Для моделирования используются специальные планы активного эксперимента. Применение данной методики дает возможность сократить время испытания изделия и прогнозировать изменение его показателей качества.
Доп.точки доступа:
Моисеев, Николай Геннадьевич (кандидат технических наук; доцент)
Найти похожие
|
4.
|
Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор).
Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов [Текст] / В. Н. Игумнов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 5 (24). - С. 72-76 : 6 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 76 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
Оже-спектроскопия -- вжигание -- диоксиды рутения -- концентрационные профили -- оптическая электронная микроскопия -- процессы термообработки -- растровая электронная микроскопия -- резистивные материалы -- рентгеновский микроанализ -- сопротивление растекания контактов -- термоактивационная проводимость -- токопроводящие фазы -- толстопленочные резистивные элементы -- точечные контакты -- экспериментальные исследования -- электропроводность -- пгту в печати
Аннотация: Приводятся результаты исследований распределения содержания токопроводящей фазы, а также распределения электропроводности в объеме резистивного элемента в результате термической обработки.
Найти похожие
|
5.
|
Ермолаев, Е. В.
Стабилизация термомеханической прочности металлокерамических плат и корпусов микросхем в процессе циклической высокотемпературной обработки [Текст] / Е. В. Ермолаев, Н. М. Скулкин // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 2 (21). - С. 75-83 : 7 рис. - Библиогр.: с. 81-82 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
дефекты -- диэлектрики -- капиллярные трещины -- межслойные переходы -- металлокерамические платы -- микросхемы -- несогласованное сжатие -- стеклофаза -- температурная обработка -- термомеханическая прочность -- циклическая высокотемпературная обработка
Доп.точки доступа:
Скулкин, Николай Михайлович (доктор технических наук; профессор)
Найти похожие
|
6.
|
Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств [Текст] / И. И. Попов [и др.] // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96 : 6 рис. - Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Экспериментальные методы и аппаратура оптики
Кл.слова (ненормированные):
заданные параметры -- труды ПГТУ -- зондовая микроскопия -- магнетронное распыление -- методы моделирования -- наноразмерные пленочные структуры -- наноэлектронные материалы -- оптические свойства -- полупроводниковые кристаллиты -- полупроводниковые структуры -- рентгенодифракционный анализ -- текстурированность пленок -- тонкие пленки -- фотонное эхо -- функциональные покрытия
Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами.
Доп.точки доступа:
Попов, Иван Иванович (доктор физико-математических наук; профессор)
Вашурин, Никита Сергеевич (аспирант)
Мороз, Андрей Викторович (аспирант)
Степанов, Сергей Александрович (аспирант)
Сушенцов, Николай Иванович (кандидат технических наук; доцент)
Роженцов, Алексей Аркадьевич (доктор технических наук; профессор)
Евдокимов, Алексей Олегович (кандидат технических наук; доцент)
Найти похожие
|
7.
|
Козлов, Петр Иванович (заместитель директора).
Фактор структурной нестабильности при разработке вероятностно-физической модели дефектов металлокерамических плат [Текст] / П. И. Козлов, Н. М. Скулкин, Е. В. Михеева // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2015. - № 2 (26). - С. 75-81 : 2 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 79 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
вероятностно-физические модели -- вязкость стеклофазы -- дефекты -- кристаллизация -- металлокерамические платы -- надежность изделий -- производственные факторы -- разработка изделий -- статистические характеристики -- тонкая керамика -- факторы структурной нестабильности -- экспериментальные исследования
Доп.точки доступа:
Скулкин, Николай Михайлович (доктор технических наук; профессор)
Михеева, Елена Викторовна (кандидат технических наук; доцент)
Найти похожие
|
8.
|
Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор).
Модель электропроводности толстопленочных резисторов [Текст] / В. Н. Игумнов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2015. - № 2 (26). - С. 67-74 : 6 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 72-73 (8 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Электрический ток
Кл.слова (ненормированные):
жидкофазное спекание -- металлические составляющие проводимости -- модели электропроводности -- резистивные слои -- термоактивные составляющие проводимости -- терморезистивные характеристики -- токопроводящие фазы -- толстопленочные резисторы -- туннельно-барьерные механизмы -- удельное сопротивление -- экспериментальные исследования -- электроискровая подгонка
Найти похожие
|
9.
|
Захаров, Юрий Владимирович (кандидат технических наук; профессор).
Комплексная оценка качества изделий электронной техники на основе метода статистических решений [Текст] / Ю. В. Захаров, Н. Г. Моисеев // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2015. - № 1 (25). - С. 50-54. - Библиогр.: с. 53 (6 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Вычислительная техника
Распознавание и преобразование образов
Кл.слова (ненормированные):
Харрингтона функция желательности -- единичные показатели качества -- качество изделий -- ковариационные матрицы -- комплексная оценка качества -- комплексные показатели качества -- корреляционная зависимость -- методы статистических решений -- средневзвешенные геометрические показатели -- теории распознавания образов -- функция желательности Харрингтона -- электронная техника -- пгту в печати
Аннотация: Рассматриваются вопросы комплексной оценки качества изделий электронной техники при отсутствии и наличии корреляционных связей между единичными показателями качества. В случае корреляционной зависимости единичных показателей качества изделия для решения задачи используется математический аппарат теории распознавания образов - метод статистических решений. Предложен алгоритм комплексной оценки качества изделий электронной техники на основе метода статистических решений.
Доп.точки доступа:
Моисеев, Николай Геннадьевич (кандидат технических наук; доцент)
Найти похожие
|
10.
|
Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор).
Характеристики локальной области резистивного слоя под действием искрового разряда [Текст] / В. Н. Игумнов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2016. - № 3. - С. 66-73 : 4 рис., 3 табл. - Библиогр.: с. 71-72 (8 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Физика полупроводников и диэлектриков
Кл.слова (ненормированные):
диоксид рутения -- единичные разряды -- жидкофазное спекание -- искровые разряды -- локальные области -- металлический рутений -- модели электроискровой обработки -- плавление материалов -- разрядное напряжение -- резистивные пленки -- резистивные слои -- токопроводящие фазы -- толстопленочные резисторы -- удельная электропроводность -- удельное сопротивление -- экспериментальные исследования -- электроискровая подгонка -- электрофизические свойства -- энергия разрядов
Аннотация: Приводятся результаты экспериментальных исследований и расчетов изменений электрофизических свойств толстопленочных резисторов до и после электроискровой подгонки. Рассмотрена зона воздействия искрового разряда на резистивную пленку. Предложена тепловая модель действия искрового разряда на толстопленочный резистор, учитывающая энергию разряда.
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный